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一种电子元器件缺陷识别方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411080774.X
申请日：
2024-08-08
公开(公告)号：
CN118608523B
公开(公告)日：
2024-11-12
发明(设计)人：
赵臣龙
申请人：
俐玛光电科技（北京）有限公司
申请人地址：
100176 北京市大兴区经济技术开发区荣华中路19号院1号楼A座16层1605室
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06T7/11 G06T7/136 G06T5/70 G06T5/60 G06V10/74 G06V10/82 G06N3/0464
代理机构：
河北北方知识产权代理有限公司 13194
代理人：
苑朝阳
法律状态：
公开
国省代码：
安徽省 宣城市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-09-06 公开 公开
2024-09-24 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240808
2024-11-12 授权 授权
共 50 条
[1]
一种电子元器件缺陷识别方法 [P]. 
赵臣龙 .
中国专利 :CN118608523A ,2024-09-06
[2]
一种电子元器件表面缺陷识别方法 [P]. 
杜坤香 .
中国专利 :CN115294314B ,2022-12-30
[3]
一种电子元器件X射线检查缺陷自动识别方法 [P]. 
黄东巍 ;
王爽 ;
王素玉 ;
张玉芹 ;
周钦沅 ;
张宏宇 ;
麻力 .
中国专利 :CN113409245B ,2024-04-02
[4]
一种电子元器件X射线检查缺陷自动识别方法 [P]. 
黄东巍 ;
王爽 ;
王素玉 ;
张玉芹 ;
周钦沅 ;
张宏宇 ;
麻力 .
中国专利 :CN113409245A ,2021-09-17
[5]
一种基于卷积神经网络的电子元器件缺陷识别方法及装置 [P]. 
曾念寅 ;
李新宇 ;
吴佩树 ;
胡立伟 ;
刘浩楠 ;
李寒 .
中国专利 :CN116245802B ,2025-12-16
[6]
一种电子元器件瑕疵识别方法 [P]. 
郭名鹏 ;
王桂林 .
中国专利 :CN114518365B ,2025-05-30
[7]
一种电子元器件瑕疵识别方法 [P]. 
郭名鹏 ;
王桂林 .
中国专利 :CN114518365A ,2022-05-20
[8]
一种电子元器件缺陷检测方法 [P]. 
刘星 .
中国专利 :CN115082449A ,2022-09-20
[9]
一种基于机器学习的电子元器件识别方法 [P]. 
卢友彬 .
中国专利 :CN115359041A ,2022-11-18
[10]
一种电子元器件的检测识别方法 [P]. 
吴鹏 ;
李旻 ;
陈志豪 ;
苏恒 ;
董昊 ;
刘腾飞 .
中国专利 :CN118736303A ,2024-10-01
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