一种电子元器件表面缺陷人工智能分析系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511186107.4

申请日：

2024-10-24

公开(公告)号：

CN121073940A

公开(公告)日：

2025-12-05

发明(设计)人：

王斌

申请人：

中山市中庆科技有限公司

申请人地址：

528400 广东省中山市板芙镇芙中路16号之一

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/40 G06V10/764 G06V10/80 G06V10/82 G06V10/52 G06V10/77 G06V20/70 G06N3/0464 G06N3/048 G06N3/0499 G06N3/045

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

引用

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共 50 条

[1]

一种基于注意力机制的电子元器件表面缺陷分析系统 [P].

王斌 .

中国专利 :CN119444696A ,2025-02-14

[2]

基于人工智能的电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P].

杨小洪 .

中国专利 :CN120107220A ,2025-06-06

[3]

一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P].

徐秋凤 .

中国专利 :CN115311275A ,2022-11-08

[4]

一种电子元器件表面缺陷识别方法 [P].

杜坤香 .

中国专利 :CN115294314B ,2022-12-30

[5]

一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P].

徐鑫 .

中国专利 :CN117593273A ,2024-02-23

[6]

一种基于云端人工智能表面缺陷检测系统 [P].

杨华 ;

尹周平 ;

宋开友 .

中国专利 :CN110567974B ,2019-12-13

[7]

一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统与方法 [P].

杨玲玲 ;

黎杨梅 ;

周林兵 ;

付厚奎 ;

杨祉芸 .

中国专利 :CN117840070A ,2024-04-09

[8]

一种电子元器件的表面缺陷光学检测系统与方法 [P].

杨玲玲 ;

黎杨梅 ;

周林兵 ;

付厚奎 ;

杨祉芸 .

中国专利 :CN117840070B ,2024-08-13

[9]

一种基于人工智能的电子元器件故障诊断系统 [P].

徐力 ;

黄崇发 ;

严浩淼 ;

徐愈龙 .

中国专利 :CN117830309A ,2024-04-05

[10]

一种基于人工智能的电子元器件故障检测方法 [P].

吴志坚 ;

李君航 ;

陈志扬 .

中国专利 :CN119598255A ,2025-03-11

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-05	公开	公开
2025-12-23	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241024