一种基于注意力机制的电子元器件表面缺陷分析系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411493118.2

申请日：

2024-10-24

公开(公告)号：

CN119444696A

公开(公告)日：

2025-02-14

发明(设计)人：

王斌

申请人：

中山市中庆科技有限公司

申请人地址：

528400 广东省中山市板芙镇芙中路16号之一

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/25 G06V10/44 G06V10/54 G06V10/762 G06V10/80 G06V10/82 G06N3/0464 G06V10/42

代理机构：

杭州信义达专利代理事务所(普通合伙) 33305

代理人：

马若凡

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-04	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241024
2025-02-14	公开	公开

共 50 条

[1]

一种电子元器件表面缺陷人工智能分析系统 [P].

王斌 .

中国专利 :CN121073940A ,2025-12-05

[2]

一种基于混合域注意力机制的电子元器件识别方法 [P].

夏玉果 .

中国专利 :CN118941920A ,2024-11-12

[3]

基于多尺度注意力机制的电子元器件深度迁移识别方法 [P].

夏玉果 .

中国专利 :CN115375946A ,2022-11-22

[4]

一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P].

徐秋凤 .

中国专利 :CN115311275A ,2022-11-08

[5]

一种电子元器件表面缺陷识别方法 [P].

杜坤香 .

中国专利 :CN115294314B ,2022-12-30

[6]

一种基于多注意力机制的工件表面缺陷检测方法 [P].

王卫 ;

于波 ;

刘佳龙 ;

王宁 ;

金继鑫 ;

高岑 ;

隋东 .

中国专利 :CN118967644A ,2024-11-15

[7]

基于空间注意力机制的精品罐表面缺陷检测方法和系统 [P].

程良伦 ;

王洋赛 ;

胡伟华 ;

王涛 ;

黄国恒 .

中国专利 :CN113256563A ,2021-08-13

[8]

一种基于深度学习的电子元器件缺陷目标检测的方法 [P].

蒋达 ;

张光明 ;

王俊瑾 ;

朱云康 .

中国专利 :CN120182168A ,2025-06-20

[9]

一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P].

徐鑫 .

中国专利 :CN117593273A ,2024-02-23

[10]

基于缺陷修复的无监督电子元器件表面缺陷检测方法 [P].

高红霞 ;

李冠基 ;

陈山娇 ;

赵金辉 ;

李绍龙 .

中国专利 :CN117952924B ,2025-09-26

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