一种基于深度学习的电子元器件缺陷目标检测的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311759232.0

申请日：

2023-12-20

公开(公告)号：

CN120182168A

公开(公告)日：

2025-06-20

发明(设计)人：

蒋达张光明王俊瑾朱云康

申请人：

太极半导体（苏州）有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市苏州工业园区综合保税区启明路158号建屋1号厂房

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06N3/0475 G06N3/0455 G06N3/094

代理机构：

苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙) 32246

代理人：

于浩江

法律状态：

公开

国省代码：

天津市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-20	公开	公开
2025-07-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20231220

共 50 条

[1]

一种基于深度学习的电子元器件表面缺陷检测方法 [P].

成建宏 ;

王伟伟 ;

李少杉 .

中国专利 :CN120182221A ,2025-06-20

[2]

一种基于深度学习的工业元器件外观缺陷检测方法 [P].

杨灵运 ;

文杰 ;

陈建 ;

杨文峰 ;

王小康 ;

陈胜 .

中国专利 :CN110658202B ,2020-01-07

[3]

基于深度学习的微小元器件缺陷检测系统及方法 [P].

赵亚凤 ;

刘嘉程 ;

王恩泽 ;

黄云连 ;

王冬冬 ;

李园 ;

王孟雪 .

中国专利 :CN113920087A ,2022-01-11

[4]

一种基于深度学习的电子元器件外观不良品的检测方法 [P].

郑小青 ;

陈杰 ;

郑松 ;

王洪成 ;

孔亚广 .

中国专利 :CN110766664A ,2020-02-07

[5]

一种基于深度学习的电子元器件质量检测方法与系统 [P].

顾慎凯 ;

何帆 .

中国专利 :CN111932511B ,2020-11-13

[6]

基于图像的电子元器件缺陷检测方法 [P].

陈震 ;

王鸿鹏 ;

程正涛 ;

王子涵 .

中国专利 :CN115187808B ,2025-05-06

[7]

一种基于深度学习的元器件缺陷检测方法及系统 [P].

栾凤凯 ;

袁丽平 ;

杨家兴 ;

王柯 ;

张磊 ;

梁正奇 .

中国专利 :CN120356025A ,2025-07-22

[8]

一种电子元器件的缺陷检测方法 [P].

程伟 ;

杨丽丹 ;

杨顺作 ;

杨丽香 ;

杨金燕 ;

杨丽霞 .

中国专利 :CN115018828A ,2022-09-06

[9]

一种基于深度学习的电路板元器件缺陷检测方法 [P].

杜启亮 ;

向照夷 ;

田联房 .

中国专利 :CN113077453B ,2021-07-06

[10]

一种基于深度学习与NCA融合的电子元器件识别方法 [P].

姚征远 ;

刘海建 .

中国专利 :CN110991247A ,2020-04-10

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