一种基于深度学习的元器件缺陷检测方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311851330.7

申请日：

2023-12-29

公开(公告)号：

CN120356025A

公开(公告)日：

2025-07-22

发明(设计)人：

栾凤凯袁丽平杨家兴王柯张磊梁正奇

申请人：

武汉奇凯信息科技发展有限公司

申请人地址：

430070 湖北省武汉市洪山区雄楚大道武汉理工大学南湖校区大学生创新创业园二、三、四号楼（武汉理工孵化器二号楼6层604室）

IPC主分类号：

G06V10/774

IPC分类号：

G06V10/776 G06V10/82 G06T7/00

代理机构：

湖南会挽专利代理事务所(普通合伙) 43286

代理人：

刁飞

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-22	公开	公开
2025-08-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06V 10/774申请日:20231229

共 50 条

[1]

一种基于深度学习的工业元器件外观缺陷检测方法 [P].

杨灵运 ;

文杰 ;

陈建 ;

杨文峰 ;

王小康 ;

陈胜 .

中国专利 :CN110658202B ,2020-01-07

[2]

基于深度学习的微小元器件缺陷检测系统及方法 [P].

赵亚凤 ;

刘嘉程 ;

王恩泽 ;

黄云连 ;

王冬冬 ;

李园 ;

王孟雪 .

中国专利 :CN113920087A ,2022-01-11

[3]

一种基于深度学习的电子元器件表面缺陷检测方法 [P].

成建宏 ;

王伟伟 ;

李少杉 .

中国专利 :CN120182221A ,2025-06-20

[4]

一种基于深度学习的电路板元器件缺陷检测方法 [P].

杜启亮 ;

向照夷 ;

田联房 .

中国专利 :CN113077453B ,2021-07-06

[5]

一种基于深度学习的电子元器件缺陷目标检测的方法 [P].

蒋达 ;

张光明 ;

王俊瑾 ;

朱云康 .

中国专利 :CN120182168A ,2025-06-20

[6]

一种基于深度学习的PCB板元器件检测方法 [P].

高浩 ;

杨泽宇 ;

胡海东 .

中国专利 :CN110070536A ,2019-07-30

[7]

一种基于深度学习的电子元器件质量检测方法与系统 [P].

顾慎凯 ;

何帆 .

中国专利 :CN111932511B ,2020-11-13

[8]

基于深度学习的氮化镓射频器件缺陷检测方法及系统 [P].

刘洋洲 .

中国专利 :CN120707528A ,2025-09-26

[9]

一种元器件缺陷检测的方法及装置 [P].

张海明 ;

唐章东 ;

李璇 ;

王征 ;

范晓明 ;

辛奇 ;

王雪生 ;

王贺 ;

刘敏 ;

范壮壮 ;

高华兴 .

中国专利 :CN114155197A ,2022-03-08

[10]

一种元器件引脚缺陷检测方法、系统、设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118822975A ,2024-10-22

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