基于深度学习的氮化镓射频器件缺陷检测方法及系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510830511.4
申请日
2025-06-20
公开(公告)号
CN120707528A
公开(公告)日
2025-09-26
发明(设计)人
刘洋洲
申请人
中科苏州微电子产业技术研究院
申请人地址
215000 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城1幢505、507
IPC主分类号
G06T7/00
IPC分类号
G06V10/80 G06V10/82 G06V10/764 G06V10/46 G06N3/045 G06N3/0464 G06N3/0442 G06N3/084
代理机构
北京智征启营专利代理事务所(特殊普通合伙) 16250
代理人
张小军
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
基于二次谐波增强的氮化镓器件富镓缺陷检测方法 [P]. 
刘铎 ;
杨伟远 ;
何玉征 .
中国专利 :CN119290848B ,2025-03-07
[2]
基于二次谐波增强的氮化镓器件富镓缺陷检测方法 [P]. 
刘铎 ;
杨伟远 ;
何玉征 .
中国专利 :CN119290848A ,2025-01-10
[3]
基于深度学习的缺陷检测方法和系统 [P]. 
王远 ;
焦健浩 ;
云鹏 ;
穆罕默德·奥斯曼·布塔 ;
孙学斌 ;
刘明 .
中国专利 :CN113538323A ,2021-10-22
[4]
基于深度学习的铸件外观缺陷检测方法 [P]. 
刘冬 ;
丛明 ;
卢长奇 ;
肖庆阳 ;
方建儒 ;
葛春东 .
中国专利 :CN113096098A ,2021-07-09
[5]
基于深度学习的铸件外观缺陷检测方法 [P]. 
刘冬 ;
丛明 ;
卢长奇 ;
肖庆阳 ;
方建儒 ;
葛春东 .
中国专利 :CN113096098B ,2024-01-05
[6]
基于深度学习的圆孔毛边缺陷检测方法、系统及存储介质 [P]. 
王岩 ;
石庆卫 .
中国专利 :CN118941568B ,2025-03-04
[7]
基于深度学习的圆孔毛边缺陷检测方法、系统及存储介质 [P]. 
王岩 ;
石庆卫 .
中国专利 :CN118941568A ,2024-11-12
[8]
用于制备氮化镓射频器件的衬底及其制备方法、氮化镓射频器件 [P]. 
袁卫华 ;
程文进 ;
孙勇 ;
徐松 ;
罗才旺 ;
彭立波 ;
曹华翔 ;
罗南安 .
中国专利 :CN112713082A ,2021-04-27
[9]
基于深度学习的缺陷检测方法、系统、装置和存储介质 [P]. 
万平 .
中国专利 :CN113870188A ,2021-12-31
[10]
基于深度学习的端子缺陷检测方法及系统 [P]. 
张金波 ;
姚毅 .
中国专利 :CN111275700A ,2020-06-12