基于深度学习的缺陷检测方法、系统、装置和存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111025464.4
申请日
2021-09-02
公开(公告)号
CN113870188A
公开(公告)日
2021-12-31
发明(设计)人
万平
申请人
申请人地址
510000 广东省广州市天河区高唐路235号07栋0601
IPC主分类号
G06T700
IPC分类号
G06T7136 G06N304 G06N308
代理机构
广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288
代理人
曾令军
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
基于深度学习的圆孔毛边缺陷检测方法、系统及存储介质 [P]. 
王岩 ;
石庆卫 .
中国专利 :CN118941568B ,2025-03-04
[2]
基于深度学习的圆孔毛边缺陷检测方法、系统及存储介质 [P]. 
王岩 ;
石庆卫 .
中国专利 :CN118941568A ,2024-11-12
[3]
基于深度学习的缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
刘飞 ;
林宜龙 ;
胡忠 ;
欧政义 ;
王能翔 .
中国专利 :CN114998192A ,2022-09-02
[4]
基于深度学习的缺陷检测方法和系统 [P]. 
王远 ;
焦健浩 ;
云鹏 ;
穆罕默德·奥斯曼·布塔 ;
孙学斌 ;
刘明 .
中国专利 :CN113538323A ,2021-10-22
[5]
基于深度学习的行人检测方法、系统、装置及存储介质 [P]. 
石磊 ;
马进 ;
王健宗 .
中国专利 :CN109961009A ,2019-07-02
[6]
基于深度学习的笔类缺陷检测方法、计算设备和存储介质 [P]. 
王毅 ;
金峻臣 ;
张皓霖 .
中国专利 :CN113706465B ,2021-11-26
[7]
基于分步深度学习的轨枕缺陷检测方法及存储介质 [P]. 
刘东 ;
吴松荣 ;
郑英杰 .
中国专利 :CN111815605A ,2020-10-23
[8]
基于深度学习的晶圆表面缺陷检测方法、系统及存储介质 [P]. 
张夏玮 ;
史曼云 ;
郭宜娜 ;
杨佳琦 ;
殷海洋 ;
蒋睿 ;
张贵阳 .
中国专利 :CN117710378B ,2024-04-30
[9]
基于深度学习的晶圆表面缺陷检测方法、系统及存储介质 [P]. 
张夏玮 ;
史曼云 ;
郭宜娜 ;
杨佳琦 ;
殷海洋 ;
蒋睿 ;
张贵阳 .
中国专利 :CN117710378A ,2024-03-15
[10]
基于深度学习的铸件外观缺陷检测方法 [P]. 
刘冬 ;
丛明 ;
卢长奇 ;
肖庆阳 ;
方建儒 ;
葛春东 .
中国专利 :CN113096098A ,2021-07-09