基于深度学习的笔类缺陷检测方法、计算设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110834595.0

申请日：

2021-07-22

公开(公告)号：

CN113706465B

公开(公告)日：

2021-11-26

发明(设计)人：

王毅金峻臣张皓霖

申请人：

申请人地址：

311100 浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-2号8幢203室

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06V1044 G06V1075 G06V10764 G06V1082 G06N304 G06N308

代理机构：

杭州创信知识产权代理有限公司 33383

代理人：

杨燕霞

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-15	授权	授权
2021-12-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210722
2021-11-26	公开	公开

共 50 条

[1]

基于深度学习的缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P].

刘飞 ;

林宜龙 ;

胡忠 ;

欧政义 ;

王能翔 .

中国专利 :CN114998192A ,2022-09-02

[2]

基于深度学习的瑕疵检测方法、计算设备和存储介质 [P].

王毅 .

中国专利 :CN113920053A ,2022-01-11

[3]

基于深度学习的缺陷检测方法、系统、装置和存储介质 [P].

万平 .

中国专利 :CN113870188A ,2021-12-31

[4]

基于分步深度学习的轨枕缺陷检测方法及存储介质 [P].

刘东 ;

吴松荣 ;

郑英杰 .

中国专利 :CN111815605A ,2020-10-23

[5]

基于深度学习的激光芯片缺陷检测方法与系统、设备及存储介质 [P].

李灯熬 ;

赵菊敏 ;

郭帅 .

中国专利 :CN113077431A ,2021-07-06

[6]

基于深度学习的金属打磨面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

吕中亮 ;

卢震宇 ;

夏可文 ;

张列 ;

左海伦 ;

陈橙 ;

徐友苇 ;

丁北辰 .

中国专利 :CN118297890A ,2024-07-05

[7]

基于深度迁移学习的检测方法、存储介质和检测系统 [P].

孙进 ;

谷孝东 ;

纪昌杰 ;

刘克志 ;

吕佳霖 ;

鞠沛 ;

曹葵康 ;

刘明星 .

中国专利 :CN112991344A ,2021-06-18

[8]

基于深度学习的光伏板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

袁小晨 ;

包浚杞 ;

林灿堂 ;

严肇基 .

中国专利 :CN118052803A ,2024-05-17

[9]

基于深度学习的圆孔毛边缺陷检测方法、系统及存储介质 [P].

王岩 ;

石庆卫 .

中国专利 :CN118941568B ,2025-03-04

[10]

基于深度学习的圆孔毛边缺陷检测方法、系统及存储介质 [P].

王岩 ;

石庆卫 .

中国专利 :CN118941568A ,2024-11-12

← 1 2 3 4 5 →