基于深度学习的激光芯片缺陷检测方法与系统、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110341277.0

申请日：

2021-03-30

公开(公告)号：

CN113077431A

公开(公告)日：

2021-07-06

发明(设计)人：

李灯熬赵菊敏郭帅

申请人：

申请人地址：

030600 山西省太原市迎泽西大街79号太原理工大学

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06K962 G06N304 G06N308 G06T550

代理机构：

北京一品慧诚知识产权代理有限公司 11762

代理人：

张宇

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-06	公开	公开
2021-07-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210330

共 50 条

[1]

基于深度学习芯片的工业缺陷检测方法、设备及介质 [P].

谭康鸿 ;

郑贤霖 ;

翟懿奎 ;

游杰 ;

吴晓阳 ;

林向阳 ;

李卓熙 ;

吴子杰 ;

郑立贤 ;

徐颖 ;

王天雷 ;

李烨 .

中国专利 :CN119559119A ,2025-03-04

[2]

基于深度学习的圆孔毛边缺陷检测方法、系统及存储介质 [P].

王岩 ;

石庆卫 .

中国专利 :CN118941568B ,2025-03-04

[3]

基于深度学习的圆孔毛边缺陷检测方法、系统及存储介质 [P].

王岩 ;

石庆卫 .

中国专利 :CN118941568A ,2024-11-12

[4]

基于深度学习的缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P].

刘飞 ;

林宜龙 ;

胡忠 ;

欧政义 ;

王能翔 .

中国专利 :CN114998192A ,2022-09-02

[5]

基于深度学习的缺陷检测方法、系统、装置和存储介质 [P].

万平 .

中国专利 :CN113870188A ,2021-12-31

[6]

基于分步深度学习的轨枕缺陷检测方法及存储介质 [P].

刘东 ;

吴松荣 ;

郑英杰 .

中国专利 :CN111815605A ,2020-10-23

[7]

基于深度学习的金属打磨面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

吕中亮 ;

卢震宇 ;

夏可文 ;

张列 ;

左海伦 ;

陈橙 ;

徐友苇 ;

丁北辰 .

中国专利 :CN118297890A ,2024-07-05

[8]

基于深度学习的光伏板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

袁小晨 ;

包浚杞 ;

林灿堂 ;

严肇基 .

中国专利 :CN118052803A ,2024-05-17

[9]

基于深度学习的笔类缺陷检测方法、计算设备和存储介质 [P].

王毅 ;

金峻臣 ;

张皓霖 .

中国专利 :CN113706465B ,2021-11-26

[10]

基于深度学习的缺陷检测方法和系统 [P].

王远 ;

焦健浩 ;

云鹏 ;

穆罕默德·奥斯曼·布塔 ;

孙学斌 ;

刘明 .

中国专利 :CN113538323A ,2021-10-22

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