一种基于深度学习的电路板元器件缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110403802.7

申请日：

2021-04-15

公开(公告)号：

CN113077453B

公开(公告)日：

2021-07-06

发明(设计)人：

杜启亮向照夷田联房

申请人：

申请人地址：

510640 广东省广州市天河区五山路381号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06N304

代理机构：

广州市华学知识产权代理有限公司 44245

代理人：

冯炳辉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-13	授权	授权
2021-07-06	公开	公开
2021-07-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210415

共 50 条

[1]

一种电路板元器件缺陷检测方法、装置、终端及存储介质 [P].

花霖 ;

于非 ;

尹东富 ;

蔡昊杰 ;

韩笑 .

中国专利 :CN117871545A ,2024-04-12

[2]

一种基于深度学习的工业元器件外观缺陷检测方法 [P].

杨灵运 ;

文杰 ;

陈建 ;

杨文峰 ;

王小康 ;

陈胜 .

中国专利 :CN110658202B ,2020-01-07

[3]

基于深度学习的电路板表面缺陷检测方法及检测系统 [P].

吕盛坪 ;

李灯辉 ;

罗勇 ;

廖鑫婷 ;

江城 ;

朱紫纯 ;

冼荣亨 .

中国专利 :CN111768363A ,2020-10-13

[4]

基于深度学习的工业印制电路板图像缺陷检测方法 [P].

陈英 ;

郭书斌 ;

邓君康 ;

龙泽烨 ;

乐欣元 ;

谢宇迪 ;

雷飞洋 ;

彭坤 ;

张裕良 ;

周宗来 ;

陈旺 .

中国专利 :CN119295448B ,2025-04-01

[5]

基于深度学习的印刷电路板缺陷检测方法及系统 [P].

储超群 ;

陈仕江 ;

周继乐 .

中国专利 :CN114140385A ,2022-03-04

[6]

基于深度学习的工业印制电路板图像缺陷检测方法 [P].

陈英 ;

郭书斌 ;

邓君康 ;

龙泽烨 ;

乐欣元 ;

谢宇迪 ;

雷飞洋 ;

彭坤 ;

张裕良 ;

周宗来 ;

陈旺 .

中国专利 :CN119295448A ,2025-01-10

[7]

基于深度学习的电路板塞孔缺陷检测方法及装置 [P].

吕杰 ;

张晖 .

中国专利 :CN113516650A ,2021-10-19

[8]

一种基于深度学习的电路板缺陷检测系统及其检测方法 [P].

段锐锐 ;

闫鹏翔 ;

廉柯 ;

杜飞扬 ;

丁演林 ;

王哲 ;

杨明华 .

中国专利 :CN113533348A ,2021-10-22

[9]

一种基于深度学习的电子元器件表面缺陷检测方法 [P].

成建宏 ;

王伟伟 ;

李少杉 .

中国专利 :CN120182221A ,2025-06-20

[10]

一种基于深度学习的元器件缺陷检测方法及系统 [P].

栾凤凯 ;

袁丽平 ;

杨家兴 ;

王柯 ;

张磊 ;

梁正奇 .

中国专利 :CN120356025A ,2025-07-22

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