一种基于深度学习的电子元器件质量检测方法与系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010775041.3

申请日：

2020-08-04

公开(公告)号：

CN111932511B

公开(公告)日：

2020-11-13

发明(设计)人：

顾慎凯何帆

申请人：

申请人地址：

211816 江苏省南京市浦口区浦珠南路30号南京工业大学

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06N304 G06N308

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-13	公开	公开
2022-08-12	授权	授权
2020-12-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20200804

共 50 条

[1]

一种基于深度学习的电子元器件外观不良品的检测方法 [P].

郑小青 ;

陈杰 ;

郑松 ;

王洪成 ;

孔亚广 .

中国专利 :CN110766664A ,2020-02-07

[2]

一种基于深度学习的工业元器件外观缺陷检测方法 [P].

杨灵运 ;

文杰 ;

陈建 ;

杨文峰 ;

王小康 ;

陈胜 .

中国专利 :CN110658202B ,2020-01-07

[3]

一种基于深度学习的电子元器件表面缺陷检测方法 [P].

成建宏 ;

王伟伟 ;

李少杉 .

中国专利 :CN120182221A ,2025-06-20

[4]

一种基于深度学习与NCA融合的电子元器件识别方法 [P].

姚征远 ;

刘海建 .

中国专利 :CN110991247A ,2020-04-10

[5]

一种电子元器件质量检测方法 [P].

周克 ;

杨兴国 ;

苏婧 ;

徐晓东 ;

王体梅 .

中国专利 :CN119688004A ,2025-03-25

[6]

一种电子元器件质量检测方法 [P].

周克 ;

杨兴国 ;

苏婧 ;

徐晓东 ;

王体梅 .

中国专利 :CN119688004B ,2025-10-28

[7]

一种基于深度学习的电子元器件缺陷目标检测的方法 [P].

蒋达 ;

张光明 ;

王俊瑾 ;

朱云康 .

中国专利 :CN120182168A ,2025-06-20

[8]

一种基于深度学习的舌象图像质量检测方法 [P].

许家佗 ;

罗志宇 ;

崔骥 ;

屠立平 ;

黄景斌 ;

胡晓娟 ;

江涛 ;

崔龙涛 .

中国专利 :CN109472774A ,2019-03-15

[9]

一种基于卷积神经网络的奶粉质量检测方法与系统 [P].

丁浩晗 ;

崔晓晖 ;

程文序 ;

辛星 ;

谢祯奇 .

中国专利 :CN117522838A ,2024-02-06

[10]

一种基于深度学习的乳胶手套质量检测的方法 [P].

吴鹏 ;

李玉恒 ;

周凤环 ;

杨攀 .

中国专利 :CN119540953A ,2025-02-28

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