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测定装置、测定方法、测定程序以及记录介质
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202280087949.2
申请日
:
2022-01-12
公开(公告)号
:
CN118525194A
公开(公告)日
:
2024-08-20
发明(设计)人
:
山内隆典
后藤广树
宫城由香里
小西良明
西冈隼也
申请人
:
三菱电机株式会社
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01N21/17
IPC分类号
:
G01L1/24
G01N21/23
代理机构
:
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
:
孙明浩
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-08-20
公开
公开
2024-09-06
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/17申请日:20220112
共 50 条
[1]
测定装置、测定方法及记录有测定程序的记录介质
[P].
西田和史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
西田和史
;
原仁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
原仁
;
节田和纪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
节田和纪
.
中国专利
:CN111238380B
,2020-06-05
[2]
测定装置、测定方法以及记录介质
[P].
中野梓
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
夏普株式会社
夏普株式会社
中野梓
;
富泽亮太
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
夏普株式会社
夏普株式会社
富泽亮太
;
中岛健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
夏普株式会社
夏普株式会社
中岛健
;
岸部祥典
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
夏普株式会社
夏普株式会社
岸部祥典
.
日本专利
:CN119496967A
,2025-02-21
[3]
测定装置、测定方法以及记录介质
[P].
小林宏企
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
小林宏企
;
滝口真也
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
滝口真也
.
中国专利
:CN115372693A
,2022-11-22
[4]
测定装置、测定方法以及记录介质
[P].
奥田忠义
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
松下知识产权经营株式会社
松下知识产权经营株式会社
奥田忠义
.
日本专利
:CN115244620B
,2025-04-08
[5]
测定方法、测定装置、计算机程序以及记录介质
[P].
日下博也
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
日下博也
;
大原正满
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
大原正满
.
中国专利
:CN103959771B
,2014-07-30
[6]
电阻映射装置、电阻测定装置、电阻测定方法、程序以及记录介质
[P].
田中章
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
田中章
.
中国专利
:CN113495190A
,2021-10-12
[7]
电阻映射装置、电阻测定装置、电阻测定方法、程序以及记录介质
[P].
田中章
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社东芝
株式会社东芝
田中章
.
日本专利
:CN113495190B
,2024-10-15
[8]
测定装置、测定方法、以及测定程序
[P].
平野朝士
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
平野朝士
;
樋口刚司
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
樋口刚司
.
中国专利
:CN112261901A
,2021-01-22
[9]
位置测定装置、位置测定方法以及记录介质
[P].
菊地正哲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
菊地正哲
.
中国专利
:CN113432528A
,2021-09-24
[10]
测定装置、测定方法以及程序
[P].
石原元太郎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
横河电机株式会社
横河电机株式会社
石原元太郎
;
松川弘明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
横河电机株式会社
横河电机株式会社
松川弘明
.
日本专利
:CN118999783A
,2024-11-22
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