应用稳定性测试方法、测试装置、电子设备和存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202310118523.5
申请日
2023-01-31
公开(公告)号
CN118427062A
公开(公告)日
2024-08-02
发明(设计)人
王二旭
申请人
北京沃东天骏信息技术有限公司 北京京东世纪贸易有限公司
申请人地址
100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号院2号楼4层A402室
IPC主分类号
G06F11/36
IPC分类号
代理机构
北京律智知识产权代理有限公司 11438
代理人
孙宝海
法律状态
公开
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
应用软件的稳定性测试方法、系统、存储介质和电子设备 [P]. 
高伟 ;
张璐 ;
陶明 .
中国专利 :CN117851247A ,2024-04-09
[2]
存储稳定性的测试方法、测试装置、测试设备及存储介质 [P]. 
赵万里 ;
徐晓阳 .
中国专利 :CN110990209A ,2020-04-10
[3]
稳定性测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
吴昊 ;
晏高林 .
中国专利 :CN113204500A ,2021-08-03
[4]
稳定性测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
陈喆 .
中国专利 :CN110581915A ,2019-12-17
[5]
稳定性测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
赵燕 ;
宋书青 .
中国专利 :CN112965889A ,2021-06-15
[6]
安卓应用稳定性测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘宏伟 .
中国专利 :CN112256563B ,2024-08-13
[7]
安卓应用稳定性测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘宏伟 .
中国专利 :CN112256563A ,2021-01-22
[8]
测试方法、测试装置、电子设备和存储介质 [P]. 
夏仕钦 .
中国专利 :CN118051422A ,2024-05-17
[9]
链路稳定性测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
赵洪宋 .
中国专利 :CN120448198A ,2025-08-08
[10]
设备测试方法、设备测试装置、电子设备和存储介质 [P]. 
王哲夫 ;
李航 .
中国专利 :CN119003304A ,2024-11-22