检测方法、存储介质、电子设备及程序产品

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410517611.7
申请日
2024-04-26
公开(公告)号
CN118245306A
公开(公告)日
2024-06-25
发明(设计)人
沈卫杰
申请人
安谋科技(中国)有限公司
申请人地址
200233 上海市闵行区田林路1016号科技绿洲三期11号楼
IPC主分类号
G06F11/22
IPC分类号
代理机构
上海华诚知识产权代理有限公司 31300
代理人
肖华
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
服装检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
陈佳禄 ;
白茂生 .
中国专利 :CN119762757A ,2025-04-04
[2]
检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
王魁 ;
张魁 ;
易磊 ;
杨振宇 ;
曹振 .
中国专利 :CN117389804A ,2024-01-12
[3]
异常检测方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
张永 .
中国专利 :CN121116676A ,2025-12-12
[4]
目标检测方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
陆跃杰 ;
刘洋 ;
董雅潇 .
中国专利 :CN121190921A ,2025-12-23
[5]
异常检测方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
曹险峰 ;
张宏钰 ;
徐嘉文 .
中国专利 :CN118519037A ,2024-08-20
[6]
目标检测方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
刘洋 ;
陆跃杰 ;
董雅潇 .
中国专利 :CN121190937A ,2025-12-23
[7]
产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
吕承侃 ;
商秀芹 .
中国专利 :CN114463261A ,2022-05-10
[8]
产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
吕承侃 ;
商秀芹 .
中国专利 :CN114463261B ,2025-10-21
[9]
检测方法、可读存储介质、程序产品和电子设备 [P]. 
张武甲 .
中国专利 :CN116679243B ,2024-09-27
[10]
目标检测方法、电子设备、程序产品及存储介质 [P]. 
王寅 ;
张在琛 ;
冯成义 .
中国专利 :CN120823370A ,2025-10-21