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扫描型探针显微镜的光轴调整方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201980070728.2
申请日
:
2019-07-03
公开(公告)号
:
CN112955753B
公开(公告)日
:
2024-06-14
发明(设计)人
:
平出雅人
申请人
:
株式会社岛津制作所
申请人地址
:
日本京都府
IPC主分类号
:
G01Q20/02
IPC分类号
:
代理机构
:
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
:
刘新宇;张会华
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-06-14
授权
授权
共 50 条
[1]
扫描型探针显微镜和扫描型探针显微镜的光轴调整方法
[P].
平出雅人
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
平出雅人
.
中国专利
:CN112955753A
,2021-06-11
[2]
扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的光轴调整方法
[P].
渡边将史
论文数:
0
引用数:
0
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0
渡边将史
;
上野利浩
论文数:
0
引用数:
0
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0
上野利浩
;
伊藤晋
论文数:
0
引用数:
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0
伊藤晋
;
长谷川晶一
论文数:
0
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0
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0
长谷川晶一
.
中国专利
:CN106483337A
,2017-03-08
[3]
扫描探针显微镜以及扫描探针显微镜的光轴调整方法
[P].
山崎贤治
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
山崎贤治
.
中国专利
:CN113466494A
,2021-10-01
[4]
扫描探针显微镜以及扫描探针显微镜的光轴调整方法
[P].
山崎贤治
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
山崎贤治
.
日本专利
:CN113466494B
,2025-03-14
[5]
扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的光轴调整方法
[P].
山崎贤治
论文数:
0
引用数:
0
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0
山崎贤治
.
中国专利
:CN113311194A
,2021-08-27
[6]
扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的光轴调整方法
[P].
山崎贤治
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
山崎贤治
.
日本专利
:CN113311194B
,2024-01-26
[7]
探针显微镜以及探针显微镜的光轴调整方法
[P].
小野田有吾
论文数:
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小野田有吾
;
繁野雅次
论文数:
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繁野雅次
;
上野利浩
论文数:
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上野利浩
.
中国专利
:CN114486729A
,2022-05-13
[8]
扫描型探针显微镜以及扫描型探针显微镜的位置调整方法
[P].
藤野敬太
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
藤野敬太
.
日本专利
:CN112630144B
,2025-01-14
[9]
扫描型探针显微镜以及扫描型探针显微镜的位置调整方法
[P].
藤野敬太
论文数:
0
引用数:
0
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0
藤野敬太
.
中国专利
:CN112630144A
,2021-04-09
[10]
扫描型探针显微镜
[P].
永井正道
论文数:
0
引用数:
0
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0
永井正道
.
中国专利
:CN107850619A
,2018-03-27
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