扫描型探针显微镜的光轴调整方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201980070728.2
申请日
2019-07-03
公开(公告)号
CN112955753B
公开(公告)日
2024-06-14
发明(设计)人
平出雅人
申请人
株式会社岛津制作所
申请人地址
日本京都府
IPC主分类号
G01Q20/02
IPC分类号
代理机构
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
刘新宇;张会华
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
扫描型探针显微镜和扫描型探针显微镜的光轴调整方法 [P]. 
平出雅人 .
中国专利 :CN112955753A ,2021-06-11
[2]
扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的光轴调整方法 [P]. 
渡边将史 ;
上野利浩 ;
伊藤晋 ;
长谷川晶一 .
中国专利 :CN106483337A ,2017-03-08
[3]
扫描探针显微镜以及扫描探针显微镜的光轴调整方法 [P]. 
山崎贤治 .
中国专利 :CN113466494A ,2021-10-01
[4]
扫描探针显微镜以及扫描探针显微镜的光轴调整方法 [P]. 
山崎贤治 .
日本专利 :CN113466494B ,2025-03-14
[5]
扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的光轴调整方法 [P]. 
山崎贤治 .
中国专利 :CN113311194A ,2021-08-27
[6]
扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的光轴调整方法 [P]. 
山崎贤治 .
日本专利 :CN113311194B ,2024-01-26
[7]
探针显微镜以及探针显微镜的光轴调整方法 [P]. 
小野田有吾 ;
繁野雅次 ;
上野利浩 .
中国专利 :CN114486729A ,2022-05-13
[8]
扫描型探针显微镜以及扫描型探针显微镜的位置调整方法 [P]. 
藤野敬太 .
日本专利 :CN112630144B ,2025-01-14
[9]
扫描型探针显微镜以及扫描型探针显微镜的位置调整方法 [P]. 
藤野敬太 .
中国专利 :CN112630144A ,2021-04-09
[10]
扫描型探针显微镜 [P]. 
永井正道 .
中国专利 :CN107850619A ,2018-03-27