物理量检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202080033556.4

申请日：

2020-06-12

公开(公告)号：

CN113924467B

公开(公告)日：

2024-07-16

发明(设计)人：

中村昌道上之段晓三木崇裕五来信章斋藤直生石川贵之

申请人：

日立安斯泰莫株式会社

申请人地址：

日本茨城县

IPC主分类号：

G01M15/05

IPC分类号：

G01F1/684

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

龙淳;王昊

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-16	授权	授权

共 50 条

[1]

物理量检测装置 [P].

中村昌道 ;

上之段晓 ;

三木崇裕 ;

五来信章 ;

斋藤直生 ;

石川贵之 .

中国专利 :CN113924467A ,2022-01-11

[2]

物理量检测装置 [P].

八文字望 ;

上之段晓 ;

三木崇裕 ;

阿部博幸 .

日本专利 :CN113490836B ,2024-12-17

[3]

物理量检测装置 [P].

上之段晓 ;

野田智史 ;

斋藤直生 ;

中村昌道 ;

三木崇裕 ;

五来信章 ;

石川贵之 .

日本专利 :CN113597538B ,2024-03-19

[4]

物理量检测装置 [P].

上之段晓 ;

野田智史 ;

斋藤直生 ;

中村昌道 ;

三木崇裕 ;

五来信章 ;

石川贵之 .

中国专利 :CN113597538A ,2021-11-02

[5]

物理量检测装置 [P].

八文字望 ;

上之段晓 ;

三木崇裕 ;

阿部博幸 .

中国专利 :CN113490836A ,2021-10-08

[6]

物理量检测电路和物理量检测装置 [P].

村岛宪行 .

中国专利 :CN113720318A ,2021-11-30

[7]

物理量检测装置 [P].

山本卓央 ;

三木崇裕 ;

小田部晃 .

中国专利 :CN114174792A ,2022-03-11

[8]

物理量检测装置 [P].

三木崇裕 ;

上之段晓 ;

余语孝之 ;

法丁法哈那·宾提哈里旦 ;

田代忍 ;

河野务 .

中国专利 :CN111148972B ,2020-05-12

[9]

物理量检测装置 [P].

山本卓央 ;

三木崇裕 ;

小田部晃 .

日本专利 :CN114174792B ,2024-08-20

[10]

物理量检测装置 [P].

佐佐木奖悟 .

日本专利 :CN121207223A ,2025-12-26

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