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物理量检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510853326.7
申请日
:
2025-06-24
公开(公告)号
:
CN121207223A
公开(公告)日
:
2025-12-26
发明(设计)人
:
佐佐木奖悟
申请人
:
精工爱普生株式会社
申请人地址
:
日本东京
IPC主分类号
:
G01D5/14
IPC分类号
:
G01P3/44
H03F3/45
代理机构
:
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人
:
李丹
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-12-26
公开
公开
共 50 条
[1]
物理量检测装置和物理量检测装置的制造方法
[P].
佐佐木奖悟
论文数:
0
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0
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0
机构:
精工爱普生株式会社
精工爱普生株式会社
佐佐木奖悟
.
日本专利
:CN120820179A
,2025-10-21
[2]
物理量检测电路和物理量检测装置
[P].
村岛宪行
论文数:
0
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村岛宪行
.
中国专利
:CN113720318A
,2021-11-30
[3]
物理量检测装置
[P].
中村昌道
论文数:
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中村昌道
;
上之段晓
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上之段晓
;
三木崇裕
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三木崇裕
;
五来信章
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五来信章
;
斋藤直生
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斋藤直生
;
石川贵之
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石川贵之
.
中国专利
:CN113924467A
,2022-01-11
[4]
物理量检测装置
[P].
细川丈夫
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
细川丈夫
;
阿部博幸
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
阿部博幸
;
相马敦郎
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
相马敦郎
;
吉原贤次
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
吉原贤次
;
结城文夫
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
结城文夫
.
日本专利
:CN118159434A
,2024-06-07
[5]
物理量检测装置
[P].
中村昌道
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
中村昌道
;
上之段晓
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
上之段晓
;
三木崇裕
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
三木崇裕
;
五来信章
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
五来信章
;
斋藤直生
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
斋藤直生
;
石川贵之
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
石川贵之
.
日本专利
:CN113924467B
,2024-07-16
[6]
物理量检测装置
[P].
八文字望
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
八文字望
;
上之段晓
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
上之段晓
;
三木崇裕
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
三木崇裕
;
阿部博幸
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机构:
日立安斯泰莫株式会社
日立安斯泰莫株式会社
阿部博幸
.
日本专利
:CN113490836B
,2024-12-17
[7]
物理量检测装置
[P].
八文字望
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八文字望
;
星加浩昭
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星加浩昭
;
余语孝之
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余语孝之
;
三木崇裕
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三木崇裕
;
阿部博幸
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0
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阿部博幸
.
中国专利
:CN109642831B
,2019-04-16
[8]
物理量检测元件以及物理量检测装置
[P].
中根健智
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中根健智
;
羽迫义浩
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羽迫义浩
;
岛津侑宜
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0
岛津侑宜
.
中国专利
:CN104122015A
,2014-10-29
[9]
物理量检测装置
[P].
齐藤友明
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齐藤友明
;
上之段晓
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上之段晓
;
五来信章
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五来信章
.
中国专利
:CN114729829A
,2022-07-08
[10]
物理量检测装置
[P].
山本卓央
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山本卓央
;
星加浩昭
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星加浩昭
;
余语孝之
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余语孝之
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三木崇裕
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三木崇裕
;
细川丈夫
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细川丈夫
;
矶谷有毅
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矶谷有毅
.
中国专利
:CN108027265B
,2018-05-11
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