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物理量检测装置和物理量检测装置的制造方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510441895.0
申请日：
2025-04-09
公开(公告)号：
CN120820179A
公开(公告)日：
2025-10-21
发明(设计)人：
佐佐木奖悟
申请人：
精工爱普生株式会社
申请人地址：
日本东京
IPC主分类号：
G01D5/12
IPC分类号：
G01D11/00
代理机构：
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人：
李丹
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-11-07 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01D 5/12申请日:20250409
2025-10-21 公开 公开
共 50 条
[1]
物理量检测装置 [P]. 
佐佐木奖悟 .
日本专利 :CN121207223A ,2025-12-26
[2]
物理量检测电路和物理量检测装置 [P]. 
村岛宪行 .
中国专利 :CN113720318A ,2021-11-30
[3]
物理量检测电路和物理量检测装置 [P]. 
村岛宪行 .
中国专利 :CN113720319A ,2021-11-30
[4]
物理量检测装置的制造方法以及物理量检测装置 [P]. 
佐佐木奖悟 .
日本专利 :CN120194672A ,2025-06-24
[5]
物理量检测装置 [P]. 
中村昌道 ;
上之段晓 ;
三木崇裕 ;
五来信章 ;
斋藤直生 ;
石川贵之 .
中国专利 :CN113924467A ,2022-01-11
[6]
物理量检测装置 [P]. 
细川丈夫 ;
阿部博幸 ;
相马敦郎 ;
吉原贤次 ;
结城文夫 .
日本专利 :CN118159434A ,2024-06-07
[7]
物理量检测装置 [P]. 
中村昌道 ;
上之段晓 ;
三木崇裕 ;
五来信章 ;
斋藤直生 ;
石川贵之 .
日本专利 :CN113924467B ,2024-07-16
[8]
物理量检测装置 [P]. 
八文字望 ;
上之段晓 ;
三木崇裕 ;
阿部博幸 .
日本专利 :CN113490836B ,2024-12-17
[9]
物理量检测装置 [P]. 
八文字望 ;
星加浩昭 ;
余语孝之 ;
三木崇裕 ;
阿部博幸 .
中国专利 :CN109642831B ,2019-04-16
[10]
物理量检测元件以及物理量检测装置 [P]. 
中根健智 ;
羽迫义浩 ;
岛津侑宜 .
中国专利 :CN104122015A ,2014-10-29
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