测量三维几何形状的测量设备的校准方法、测量系统和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410172503.0

申请日：

2024-02-07

公开(公告)号：

CN118500287A

公开(公告)日：

2024-08-16

发明(设计)人：

田中良昌

申请人：

株式会社三丰

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

G01B11/24

IPC分类号：

G06T7/00 G06T7/62

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇;张文慧

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-16	公开	公开
2025-12-05	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/24申请日:20240207

共 50 条

[1]

测量三维几何形状的测量设备的校准方法、测量系统和存储介质 [P].

工藤雄治 .

日本专利 :CN118500286A ,2024-08-16

[2]

用于测量三维几何形状的测量设备的校准夹具、校准方法和测量系统 [P].

田中良昌 ;

贞平雄治 ;

佐伯刚 .

日本专利 :CN119374520A ,2025-01-28

[3]

三维几何形状测量装置和三维几何形状测量方法 [P].

宫田薫 .

中国专利 :CN113029038A ,2021-06-25

[4]

三维几何形状测量装置和三维几何形状测量方法 [P].

宫田薫 .

日本专利 :CN113029038B ,2025-06-27

[5]

三维几何形状测量设备和三维几何形状测量方法 [P].

宫田薫 .

中国专利 :CN110906884A ,2020-03-24

[6]

三维几何形状测量设备、三维几何形状测量方法、存储介质和计算机程序产品 [P].

宫田薫 .

日本专利 :CN119437084A ,2025-02-14

[7]

三维几何形状测量装置和三维几何形状测量方法 [P].

宫田薫 .

中国专利 :CN113155053A ,2021-07-23

[8]

三维几何形状测量装置和三维几何形状测量方法 [P].

宫田薫 .

日本专利 :CN113155053B ,2024-09-06

[9]

三维几何形状测量装置和三维几何形状测量方法 [P].

宫田薰 .

中国专利 :CN109099860A ,2018-12-28

[10]

三维几何形状测量装置和三维几何形状测量方法 [P].

宫田薰 .

中国专利 :CN114199159A ,2022-03-18

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