三维几何形状测量装置和三维几何形状测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011387758.7
申请日
2020-12-01
公开(公告)号
CN113029038B
公开(公告)日
2025-06-27
发明(设计)人
宫田薫
申请人
株式会社三丰
申请人地址
日本国神奈川县川崎市高津区坂户1-20-1
IPC主分类号
G01B11/25
IPC分类号
代理机构
北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444
代理人
张莉;王刚
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
三维几何形状测量装置和三维几何形状测量方法 [P]. 
宫田薫 .
中国专利 :CN113029038A ,2021-06-25
[2]
三维几何形状测量装置和三维几何形状测量方法 [P]. 
宫田薫 .
中国专利 :CN113155053A ,2021-07-23
[3]
三维几何形状测量装置和三维几何形状测量方法 [P]. 
宫田薫 .
日本专利 :CN113155053B ,2024-09-06
[4]
三维几何形状测量装置和三维几何形状测量方法 [P]. 
宫田薰 .
中国专利 :CN109099860A ,2018-12-28
[5]
三维几何形状测量装置和三维几何形状测量方法 [P]. 
宫田薰 .
中国专利 :CN114199159A ,2022-03-18
[6]
三维几何形状测量装置和三维几何形状测量方法 [P]. 
宫田薰 .
日本专利 :CN114199159B ,2025-01-07
[7]
三维几何形状测量设备和三维几何形状测量方法 [P]. 
宫田薫 .
中国专利 :CN110906884A ,2020-03-24
[8]
三维几何形状测量设备、三维几何形状测量方法、存储介质和计算机程序产品 [P]. 
宫田薫 .
日本专利 :CN119437084A ,2025-02-14
[9]
位置检测系统、位置检测方法和三维几何形状测量系统 [P]. 
喜入朋宏 ;
日高和彦 .
中国专利 :CN115409893A ,2022-11-29
[10]
测量三维几何形状的测量设备的校准方法、测量系统和存储介质 [P]. 
田中良昌 .
日本专利 :CN118500287A ,2024-08-16