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X射线检查装置及X射线检查系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410305199.2
申请日：
2024-03-18
公开(公告)号：
CN118731068A
公开(公告)日：
2024-10-01
发明(设计)人：
宫崎格 辻村映治
申请人：
安立股份有限公司
申请人地址：
日本神奈川县
IPC主分类号：
G01N23/04
IPC分类号：
G01V5/22
代理机构：
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人：
李芳华
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-10-22 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/04申请日:20240318
2024-10-01 公开 公开
共 50 条
[1]
X射线检查装置及X射线检查系统 [P]. 
宫崎格 ;
辻村映治 .
中国专利 :CN118731069A ,2024-10-01
[2]
X射线检查装置与X射线检查系统 [P]. 
金钟熙 .
韩国专利 :CN116057371B ,2025-08-29
[3]
X射线检查装置和X射线检查方法 [P]. 
太田香 ;
中田胜作 ;
松田淳 ;
冈村健 ;
铃木公太 ;
藤井快治 .
中国专利 :CN102348970A ,2012-02-08
[4]
X射线检查装置 [P]. 
寺岡璋 .
中国专利 :CN103776846B ,2014-05-07
[5]
X射线检查装置 [P]. 
笠原启雅 .
日本专利 :CN113884518B ,2025-04-08
[6]
X射线检查装置 [P]. 
笠原启雅 .
中国专利 :CN113884518A ,2022-01-04
[7]
X射线检查装置 [P]. 
米田吉之 ;
桥本信彦 .
中国专利 :CN1392403A ,2003-01-22
[8]
X射线检查装置 [P]. 
细川好则 .
中国专利 :CN103226111A ,2013-07-31
[9]
X射线检查装置及X射线检查方法 [P]. 
益田真之 ;
加藤训之 ;
杉田信治 ;
松波刚 ;
佐佐木泰 .
中国专利 :CN101960296B ,2011-01-26
[10]
X射线检查装置及X射线检查方法 [P]. 
杉田信治 ;
加藤训之 ;
益田真之 ;
松波刚 .
中国专利 :CN102150036A ,2011-08-10
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