X射线检查装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110737864.1

申请日：

2021-06-30

公开(公告)号：

CN113884518B

公开(公告)日：

2025-04-08

发明(设计)人：

笠原启雅

申请人：

欧姆龙株式会社

申请人地址：

日本国京都府京都市

IPC主分类号：

G01N23/046

IPC分类号：

G01N23/083

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

邓毅;黄纶伟

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-08	授权	授权

共 50 条

[1]

X射线检查装置和X射线检查方法 [P].

太田香 ;

中田胜作 ;

松田淳 ;

冈村健 ;

铃木公太 ;

藤井快治 .

中国专利 :CN102348970A ,2012-02-08

[2]

X射线检查装置 [P].

寺岡璋 .

中国专利 :CN103776846B ,2014-05-07

[3]

X射线检查装置 [P].

笠原启雅 .

中国专利 :CN113884518A ,2022-01-04

[4]

X射线检查装置 [P].

米田吉之 ;

桥本信彦 .

中国专利 :CN1392403A ,2003-01-22

[5]

X射线检查装置 [P].

细川好则 .

中国专利 :CN103226111A ,2013-07-31

[6]

X射线检查装置及X射线检查系统 [P].

宫崎格 ;

辻村映治 .

中国专利 :CN118731069A ,2024-10-01

[7]

X射线检查装置及X射线检查系统 [P].

宫崎格 ;

辻村映治 .

中国专利 :CN118731068A ,2024-10-01

[8]

X射线检查方法和X射线检查装置 [P].

杉田信治 ;

益田真之 .

中国专利 :CN102265142A ,2011-11-30

[9]

X射线检查装置及X射线检查方法 [P].

益田真之 ;

加藤训之 ;

杉田信治 ;

松波刚 ;

佐佐木泰 .

中国专利 :CN101960296B ,2011-01-26

[10]

X射线检查方法和X射线检查装置 [P].

益田真之 ;

杉田信治 ;

加藤训之 ;

松波刚 .

中国专利 :CN102265143A ,2011-11-30

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