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一种套刻标记结构及套刻补偿方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410539991.4
申请日
:
2024-04-30
公开(公告)号
:
CN118330984A
公开(公告)日
:
2024-07-12
发明(设计)人
:
陈会敏
陈呈
申请人
:
物元半导体技术(青岛)有限公司
申请人地址
:
266111 山东省青岛市城阳区棘洪滩街道锦盛二路金岭片区社区中心430室
IPC主分类号
:
G03F1/42
IPC分类号
:
G03F1/44
G03F7/00
G03F9/00
代理机构
:
青岛清泰联信知识产权代理有限公司 37256
代理人
:
张媛媛
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-07-12
公开
公开
2024-07-30
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G03F 1/42申请日:20240430
共 50 条
[1]
一种套刻标记结构及套刻补偿方法
[P].
陈会敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
物元半导体技术(青岛)有限公司
物元半导体技术(青岛)有限公司
陈会敏
;
陈呈
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
物元半导体技术(青岛)有限公司
物元半导体技术(青岛)有限公司
陈呈
.
中国专利
:CN118377187A
,2024-07-23
[2]
一种套刻标记及套刻误差的测量方法
[P].
齐景超
论文数:
0
引用数:
0
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0
齐景超
;
孙刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
孙刚
;
兰艳平
论文数:
0
引用数:
0
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0
兰艳平
;
杨朝兴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨朝兴
.
中国专利
:CN115497920A
,2022-12-20
[3]
一种套刻标记
[P].
吴杰
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴杰
;
邹建祥
论文数:
0
引用数:
0
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0
邹建祥
;
娄迪
论文数:
0
引用数:
0
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0
娄迪
.
中国专利
:CN114578662A
,2022-06-03
[4]
套刻标记、套刻误差测量方法及曝光机台
[P].
陈天元
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海微电子装备(集团)股份有限公司
上海微电子装备(集团)股份有限公司
陈天元
;
周晓磊
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海微电子装备(集团)股份有限公司
上海微电子装备(集团)股份有限公司
周晓磊
.
中国专利
:CN119439659A
,2025-02-14
[5]
套刻精度补偿方法
[P].
蒋运涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蒋运涛
.
中国专利
:CN106483770B
,2017-03-08
[6]
套刻标记和套刻误差的测量方法
[P].
盛薄辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
盛薄辉
.
中国专利
:CN114864549A
,2022-08-05
[7]
一种套刻对准标记及套刻偏移的测量方法
[P].
高钊
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
重庆芯联微电子有限公司
重庆芯联微电子有限公司
高钊
;
林定群
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
重庆芯联微电子有限公司
重庆芯联微电子有限公司
林定群
;
方震宇
论文数:
0
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0
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机构:
重庆芯联微电子有限公司
重庆芯联微电子有限公司
方震宇
.
中国专利
:CN119805874A
,2025-04-11
[8]
套刻对准方法及套刻模板组件
[P].
惠利省
论文数:
0
引用数:
0
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0
惠利省
;
杨国文
论文数:
0
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0
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杨国文
;
白龙刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
白龙刚
.
中国专利
:CN115083982B
,2022-09-20
[9]
套刻标记、半导体结构和套刻误差的测量方法
[P].
王松
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
王松
;
张阳
论文数:
0
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0
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机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
张阳
;
李素素
论文数:
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引用数:
0
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机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
李素素
.
中国专利
:CN119002183A
,2024-11-22
[10]
套刻精度补偿方法及装置
[P].
张强
论文数:
0
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张强
;
邢滨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邢滨
.
中国专利
:CN106325001B
,2017-01-11
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