一种套刻标记结构及套刻补偿方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410539991.4
申请日
2024-04-30
公开(公告)号
CN118330984A
公开(公告)日
2024-07-12
发明(设计)人
陈会敏 陈呈
申请人
物元半导体技术(青岛)有限公司
申请人地址
266111 山东省青岛市城阳区棘洪滩街道锦盛二路金岭片区社区中心430室
IPC主分类号
G03F1/42
IPC分类号
G03F1/44 G03F7/00 G03F9/00
代理机构
青岛清泰联信知识产权代理有限公司 37256
代理人
张媛媛
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种套刻标记结构及套刻补偿方法 [P]. 
陈会敏 ;
陈呈 .
中国专利 :CN118377187A ,2024-07-23
[2]
一种套刻标记及套刻误差的测量方法 [P]. 
齐景超 ;
孙刚 ;
兰艳平 ;
杨朝兴 .
中国专利 :CN115497920A ,2022-12-20
[3]
一种套刻标记 [P]. 
吴杰 ;
邹建祥 ;
娄迪 .
中国专利 :CN114578662A ,2022-06-03
[4]
套刻标记、套刻误差测量方法及曝光机台 [P]. 
陈天元 ;
周晓磊 .
中国专利 :CN119439659A ,2025-02-14
[5]
套刻精度补偿方法 [P]. 
蒋运涛 .
中国专利 :CN106483770B ,2017-03-08
[6]
套刻标记和套刻误差的测量方法 [P]. 
盛薄辉 .
中国专利 :CN114864549A ,2022-08-05
[7]
一种套刻对准标记及套刻偏移的测量方法 [P]. 
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[8]
套刻对准方法及套刻模板组件 [P]. 
惠利省 ;
杨国文 ;
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[9]
套刻标记、半导体结构和套刻误差的测量方法 [P]. 
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[10]
套刻精度补偿方法及装置 [P]. 
张强 ;
邢滨 .
中国专利 :CN106325001B ,2017-01-11