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套刻对准方法及套刻模板组件
被引:0
申请号
:
CN202211002657.2
申请日
:
2022-08-22
公开(公告)号
:
CN115083982B
公开(公告)日
:
2022-09-20
发明(设计)人
:
惠利省
杨国文
白龙刚
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号西北区20幢215、217室
IPC主分类号
:
H01L2168
IPC分类号
:
H01L21308
H01S500
代理机构
:
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463
代理人
:
杨萌
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-11-25
授权
授权
2022-09-20
公开
公开
共 50 条
[1]
套刻对准标记及掩模板组件
[P].
沈俊明
论文数:
0
引用数:
0
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0
沈俊明
;
吴建宏
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴建宏
;
林士程
论文数:
0
引用数:
0
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0
林士程
.
中国专利
:CN214623293U
,2021-11-05
[2]
一种套刻对准标记及套刻偏移的测量方法
[P].
高钊
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
重庆芯联微电子有限公司
重庆芯联微电子有限公司
高钊
;
林定群
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
重庆芯联微电子有限公司
重庆芯联微电子有限公司
林定群
;
方震宇
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
重庆芯联微电子有限公司
重庆芯联微电子有限公司
方震宇
.
中国专利
:CN119805874A
,2025-04-11
[3]
一种套刻对准光学量测系统和套刻对准检测设备
[P].
谷孝东
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州天准科技股份有限公司
苏州天准科技股份有限公司
谷孝东
;
曹葵康
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州天准科技股份有限公司
苏州天准科技股份有限公司
曹葵康
;
蔡亚楠
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州天准科技股份有限公司
苏州天准科技股份有限公司
蔡亚楠
.
中国专利
:CN120848122A
,2025-10-28
[4]
套刻对准标记的形成方法
[P].
刘玄
论文数:
0
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0
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0
机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
刘玄
;
余啸
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
余啸
.
中国专利
:CN115206859B
,2025-09-16
[5]
套刻对准标记及其制作方法
[P].
张峻豪
论文数:
0
引用数:
0
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0
张峻豪
.
中国专利
:CN101593744B
,2009-12-02
[6]
掩模板、套刻对准方法及制备脊形波导激光器的方法
[P].
吴艳华
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴艳华
;
王飞飞
论文数:
0
引用数:
0
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0
王飞飞
;
胡发杰
论文数:
0
引用数:
0
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0
胡发杰
;
金鹏
论文数:
0
引用数:
0
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0
金鹏
;
王占国
论文数:
0
引用数:
0
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0
王占国
.
中国专利
:CN104460223A
,2015-03-25
[7]
一种套刻标记结构及套刻补偿方法
[P].
陈会敏
论文数:
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引用数:
0
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机构:
物元半导体技术(青岛)有限公司
物元半导体技术(青岛)有限公司
陈会敏
;
陈呈
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
物元半导体技术(青岛)有限公司
物元半导体技术(青岛)有限公司
陈呈
.
中国专利
:CN118330984A
,2024-07-12
[8]
半导体套刻图形及套刻精度测量方法
[P].
许俊益
论文数:
0
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0
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
许俊益
;
王珊珊
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
王珊珊
;
仇峰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
仇峰
.
中国专利
:CN120178610A
,2025-06-20
[9]
套刻标记和套刻误差的测量方法
[P].
盛薄辉
论文数:
0
引用数:
0
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0
盛薄辉
.
中国专利
:CN114864549A
,2022-08-05
[10]
套刻误差量测装置及套刻误差量测方法
[P].
谷孝东
论文数:
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引用数:
0
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机构:
苏州天准科技股份有限公司
苏州天准科技股份有限公司
谷孝东
;
曹葵康
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州天准科技股份有限公司
苏州天准科技股份有限公司
曹葵康
.
中国专利
:CN118824880B
,2025-02-25
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