半导体显示屏电学特性测试全自动探针台

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN202330784572.3

申请日：

2023-11-29

公开(公告)号：

CN308827729S

公开(公告)日：

2024-09-10

发明(设计)人：

马永伟尹洪伟马观岚

申请人：

江苏才道精密仪器有限公司

申请人地址：

215300 江苏省苏州市常熟市东南街道银河路128号

IPC主分类号：

10-05

IPC分类号：

代理机构：

杭州山泰专利代理事务所(普通合伙) 33438

代理人：

陈秋婷

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-10	授权	授权
2025-09-16	专利权的保全及其解除	专利权的保全主分类号:10-05申请日:20231129授权公告日:20240910登记生效日:20250725

共 50 条

[1]

一种半导体显示屏电学特性测试全自动探针台设备 [P].

马永伟 ;

尹洪伟 ;

马观岚 .

中国专利 :CN117566397A ,2024-02-20

[2]

一种半导体显示屏电学特性测试半自动探针台设备 [P].

马永伟 ;

尹洪伟 ;

马观岚 .

中国专利 :CN117368546A ,2024-01-09

[3]

一种半导体显示屏电学特性测试半自动探针台设备 [P].

马永伟 ;

尹洪伟 ;

马观岚 .

中国专利 :CN117368546B ,2024-02-27

[4]

半导体元件全自动探针台用探针卡固定组件 [P].

黄诚 .

中国专利 :CN215641423U ,2022-01-25

[5]

全自动探针台 [P].

韩玉桥 ;

林雄星 ;

卢升 .

中国专利 :CN308657339S ,2024-05-28

[6]

半导体电学特性的测试方法和半导体电学特性的测试装置 [P].

陶国桥 .

中国专利 :CN120142880B ,2025-12-26

[7]

半导体电学特性的测试方法和半导体电学特性的测试装置 [P].

陶国桥 .

中国专利 :CN120142880A ,2025-06-13

[8]

全自动探针台（晶圆测试） [P].

郑金宝 ;

李强 ;

龚立峰 ;

刘海超 .

中国专利 :CN309692347S ,2025-12-23

[9]

全自动探针台 [P].

程高飞 .

中国专利 :CN307148592S ,2022-03-08

[10]

一种半导体元件全自动探针台用探针卡固定组件 [P].

彭勇 .

中国专利 :CN209387695U ,2019-09-13

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