半导体电学特性的测试方法和半导体电学特性的测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311694866.2

申请日：

2023-12-11

公开(公告)号：

CN120142880A

公开(公告)日：

2025-06-13

发明(设计)人：

陶国桥

申请人：

苏州晶湛半导体有限公司

申请人地址：

215123 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道99号西北区20幢517-A室

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

代理机构：

北京布瑞知识产权代理有限公司 11505

代理人：

宗广静

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-26	授权	授权
2025-06-13	公开	公开
2025-07-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20231211

共 50 条

[1]

半导体电学特性的测试方法和半导体电学特性的测试装置 [P].

陶国桥 .

中国专利 :CN120142880B ,2025-12-26

[2]

电学测试结构、半导体结构及电学测试方法 [P].

汪海 .

中国专利 :CN115602663A ,2023-01-13

[3]

半导体装置、半导体测试装置和半导体装置的测试方法 [P].

松川和生 ;

藤田光俊 .

中国专利 :CN101405610A ,2009-04-08

[4]

半导体器件特性测试装置 [P].

钟国群 .

中国专利 :CN1063558A ,1992-08-12

[5]

一种半导体电学性能测试装置 [P].

朱明兰 ;

左万胜 ;

胡新星 ;

仇成功 ;

赵海明 ;

钮应喜 ;

袁松 ;

王丽多 .

中国专利 :CN215728597U ,2022-02-01

[6]

半导体测试电路、半导体测试装置和半导体测试方法 [P].

吉田满 .

中国专利 :CN109073705A ,2018-12-21

[7]

半导体显示屏电学特性测试全自动探针台 [P].

马永伟 ;

尹洪伟 ;

马观岚 .

中国专利 :CN308827729S ,2024-09-10

[8]

一种半导体电学特性测试样品放置设备 [P].

褚建建 .

中国专利 :CN213524478U ,2021-06-25

[9]

半导体测试装置和半导体测试方法 [P].

坂口英明 ;

永广雅之 ;

森雅美 .

中国专利 :CN1475811A ,2004-02-18

[10]

一种控温的半导体电学特性测试样品架 [P].

吉秀江 .

中国专利 :CN201716333U ,2011-01-19

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