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一种半导体电学性能测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202121882807.4
申请日：
2021-08-12
公开(公告)号：
CN215728597U
公开(公告)日：
2022-02-01
发明(设计)人：
朱明兰
左万胜
胡新星
仇成功
赵海明
钮应喜
袁松
王丽多
申请人：
申请人地址：
241000 安徽省芜湖市弋江区高新技术产业开发区服务外包园3号楼1803
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107
代理人：
孟迪
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-02-01 | 授权 | 授权 |
| 2022-08-16 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 31/26 变更事项:专利权人 变更前:芜湖启迪半导体有限公司 变更后:安徽长飞先进半导体有限公司 变更事项:地址 变更前:241000 安徽省芜湖市弋江区高新技术产业开发区服务外包园3号楼1803 变更后:241000 安徽省芜湖市高新技术产业开发区服务外包园3号楼1803 |