一种多功能离子导体电学性能测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810059618.X

申请日：

2008-01-30

公开(公告)号：

CN101498755B

公开(公告)日：

2009-08-05

发明(设计)人：

王建新王蔚国王丽琴陶有堃邵静何长荣牛金奇

申请人：

申请人地址：

315201 浙江省宁波市镇海区庄市大道519号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

宁波诚源专利事务所有限公司 33102

代理人：

袁忠卫

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-09-30	实质审查的生效	实质审查的生效
2009-08-05	公开	公开
2012-04-25	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体电学性能测试装置 [P].

朱明兰 ;

左万胜 ;

胡新星 ;

仇成功 ;

赵海明 ;

钮应喜 ;

袁松 ;

王丽多 .

中国专利 :CN215728597U ,2022-02-01

[2]

一种新型电学性能测试装置 [P].

王修才 ;

陈建文 ;

于盺梅 ;

蒋业文 ;

朱珍 ;

杨发权 ;

樊耘 ;

牛菓 ;

段志奎 .

中国专利 :CN207908543U ,2018-09-25

[3]

一种多功能半导体电学性质快速测试装置 [P].

张伟 ;

张树霞 .

中国专利 :CN206594265U ,2017-10-27

[4]

一种多功能半导体电学性质快速测试装置 [P].

张伟 ;

张树霞 .

中国专利 :CN106841971A ,2017-06-13

[5]

一种电学材料性能测试装置 [P].

王北一 .

中国专利 :CN211347718U ,2020-08-25

[6]

一种多功能半导体电学性质快速测试装置及方法 [P].

白一甲 ;

马文路 ;

王东 ;

王宏涛 ;

黄春明 ;

王惠芬 .

中国专利 :CN106908683A ,2017-06-30

[7]

电子元器件低温电学性能测试装置 [P].

郭国平 ;

路腾腾 ;

李臻 ;

雒超 .

中国专利 :CN207650285U ,2018-07-24

[8]

多功能烟丝性能测试装置 [P].

杨常勇 ;

杨义 ;

陈晓飞 ;

乔建军 ;

郑晓丽 .

中国专利 :CN214224801U ,2021-09-17

[9]

多功能车辆性能测试装置 [P].

杭志刚 ;

杭志平 .

中国专利 :CN106441919B ,2017-02-22

[10]

多功能烟丝性能测试装置 [P].

杨常勇 ;

杨义 ;

陈晓飞 ;

乔建军 ;

郑晓丽 .

中国专利 :CN112577830A ,2021-03-30

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