电子元器件低温电学性能测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201721350534.2

申请日：

2017-10-19

公开(公告)号：

CN207650285U

公开(公告)日：

2018-07-24

发明(设计)人：

郭国平路腾腾李臻雒超

申请人：

申请人地址：

230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

北京凯特来知识产权代理有限公司 11260

代理人：

郑立明;付久春

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-24	授权	授权

共 50 条

[1]

电子元器件低温电学性能测试装置及方法 [P].

郭国平 ;

路腾腾 ;

李臻 ;

雒超 .

中国专利 :CN107589333A ,2018-01-16

[2]

一种电子元器件低温辐照电学性能测试装置及方法 [P].

潘瑜 ;

顾祥 ;

郭浩 ;

纪旭明 ;

王育铭 ;

李金航 ;

常瑞恒 ;

谢儒彬 .

中国专利 :CN121069066A ,2025-12-05

[3]

电子元器件测试装置 [P].

刘世凯 .

中国专利 :CN115586386A ,2023-01-10

[4]

一种电子元器件电性能测试装置 [P].

张云飞 .

中国专利 :CN119414130A ,2025-02-11

[5]

电子元器件温度检测测试装置 [P].

金山 ;

胡少华 ;

张艳 ;

淡亚鹏 ;

张凡 ;

马肖肖 ;

员佩 ;

梁妙妙 ;

袁娜 .

中国专利 :CN222280762U ,2024-12-31

[6]

一种电子元器件测试装置 [P].

陆晓东 .

中国专利 :CN108710004A ,2018-10-26

[7]

一种电子元器件测试装置 [P].

张勇 ;

夏欢 ;

王耀辉 .

中国专利 :CN207263797U ,2018-04-20

[8]

一种电子元器件测试装置 [P].

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN206074755U ,2017-04-05

[9]

一种电子元器件测试装置 [P].

沈慧妍 ;

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN118362851A ,2024-07-19

[10]

一种电子元器件测试装置 [P].

邹智鹏 .

中国专利 :CN212845687U ,2021-03-30

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