一种电子元器件电性能测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411589009.0

申请日：

2024-11-08

公开(公告)号：

CN119414130A

公开(公告)日：

2025-02-11

发明(设计)人：

张云飞

申请人：

云舟鸿业（北京）科技有限公司

申请人地址：

100176 北京市大兴区同济中路甲7号18幢7层1单元728-E3

IPC主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R1/04 G01R1/02

代理机构：

北京鼎德宝专利代理事务所(特殊普通合伙) 11823

代理人：

严亮雄

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/00申请日:20241108
2025-02-11	公开	公开
2025-08-19	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回IPC(主分类):G01R 31/00申请公布日:20250211

共 50 条

[1]

一种电子元器件测试装置 [P].

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN206074755U ,2017-04-05

[2]

一种电子元器件测试装置 [P].

沈慧妍 ;

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN118362851A ,2024-07-19

[3]

一种电子元器件测试装置 [P].

沈慧妍 ;

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN107807317B ,2024-05-28

[4]

一种电子元器件测试装置 [P].

沈慧妍 ;

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN107807317A ,2018-03-16

[5]

电子元器件低温电学性能测试装置 [P].

郭国平 ;

路腾腾 ;

李臻 ;

雒超 .

中国专利 :CN207650285U ,2018-07-24

[6]

一种电子元器件移动测试装置 [P].

尚忠贵 ;

朱芸 ;

李长 .

中国专利 :CN214953862U ,2021-11-30

[7]

电子元器件测试装置 [P].

刘世凯 .

中国专利 :CN115586386A ,2023-01-10

[8]

一种电子元器件测试装置及其测试方法 [P].

孙振亚 ;

刘栋斌 ;

赵越 ;

李巍 ;

李哲 ;

王小朋 ;

高志良 ;

刘衍峰 ;

张达 .

中国专利 :CN113552463A ,2021-10-26

[9]

一种电子元器件测试装置 [P].

陆晓东 .

中国专利 :CN108710004A ,2018-10-26

[10]

一种电子元器件测试装置 [P].

张勇 ;

夏欢 ;

王耀辉 .

中国专利 :CN207263797U ,2018-04-20

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