辐射检查系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011639188.6

申请日：

2020-12-31

公开(公告)号：

CN114764069B

公开(公告)日：

2024-10-11

发明(设计)人：

陈志强刘磊孙尚民宗春光胡煜马媛季峥

申请人：

同方威视技术股份有限公司清华大学

申请人地址：

100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层

IPC主分类号：

G01N23/04

IPC分类号：

G01V5/22

代理机构：

中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038

代理人：

张文超

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-11	授权	授权

共 50 条

[1]

辐射检查系统 [P].

陈志强 ;

刘磊 ;

孙尚民 ;

宗春光 ;

胡煜 ;

马媛 ;

季峥 .

中国专利 :CN114764069A ,2022-07-19

[2]

辐射检查系统 [P].

曹艳锋 .

中国专利 :CN215116840U ,2021-12-10

[3]

辐射检查系统和辐射检查方法 [P].

芮晓亮 ;

王永明 ;

许艳伟 .

中国专利 :CN114764074A ,2022-07-19

[4]

辐射检查系统和辐射检查方法 [P].

李荐民 ;

张丽 ;

李元景 ;

陈志强 ;

孙尚民 ;

王云峰 ;

李巨轩 ;

许艳伟 ;

喻卫丰 ;

马媛 ;

胡煜 ;

宗春光 .

中国专利 :CN109407163A ,2019-03-01

[5]

辐射检查方法和辐射检查系统 [P].

王少锋 ;

曹艳锋 ;

王彦华 ;

李苏祺 ;

郭近贤 .

中国专利 :CN106950232A ,2017-07-14

[6]

辐射检查系统和辐射检查方法 [P].

李荐民 ;

张丽 ;

李元景 ;

陈志强 ;

孙尚民 ;

王云峰 ;

李巨轩 ;

许艳伟 ;

喻卫丰 ;

马媛 ;

胡煜 ;

宗春光 .

中国专利 :CN109407163B ,2024-05-31

[7]

辐射检查系统 [P].

季峥 ;

刘磊 ;

迟豪杰 ;

刘必成 ;

宗春光 .

中国专利 :CN119575496A ,2025-03-07

[8]

辐射检查系统 [P].

李元景 ;

宗春光 ;

刘必成 ;

刘磊 ;

迟豪杰 ;

喻卫丰 ;

史俊平 ;

谭惠文 .

中国专利 :CN117783165A ,2024-03-29

[9]

辐射检查系统 [P].

闫雄 ;

王少锋 ;

刘铮 ;

冯志涛 ;

王春雷 .

中国专利 :CN107479103B ,2017-12-15

[10]

辐射检查系统 [P].

王少锋 ;

曹艳锋 ;

王彦华 ;

李苏祺 ;

郭近贤 .

中国专利 :CN207096133U ,2018-03-13

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