辐射检查系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311837342.4
申请日
2023-12-28
公开(公告)号
CN117783165A
公开(公告)日
2024-03-29
发明(设计)人
李元景 宗春光 刘必成 刘磊 迟豪杰 喻卫丰 史俊平 谭惠文
申请人
同方威视技术股份有限公司 清华大学
申请人地址
100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
IPC主分类号
G01N23/04
IPC分类号
G01N23/203 G01N23/20008 G01V5/222 G01V5/226
代理机构
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人
张文超
法律状态
公开
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
辐射检查系统和辐射检查方法 [P]. 
芮晓亮 ;
王永明 ;
许艳伟 .
中国专利 :CN114764074A ,2022-07-19
[2]
辐射检查系统和辐射检查方法 [P]. 
李荐民 ;
张丽 ;
李元景 ;
陈志强 ;
孙尚民 ;
王云峰 ;
李巨轩 ;
许艳伟 ;
喻卫丰 ;
马媛 ;
胡煜 ;
宗春光 .
中国专利 :CN109407163A ,2019-03-01
[3]
辐射检查系统和辐射检查方法 [P]. 
李荐民 ;
张丽 ;
李元景 ;
陈志强 ;
孙尚民 ;
王云峰 ;
李巨轩 ;
许艳伟 ;
喻卫丰 ;
马媛 ;
胡煜 ;
宗春光 .
中国专利 :CN109407163B ,2024-05-31
[4]
辐射检查系统 [P]. 
季峥 ;
刘磊 ;
迟豪杰 ;
刘必成 ;
宗春光 .
中国专利 :CN119575496A ,2025-03-07
[5]
辐射检查系统 [P]. 
闫雄 ;
王少锋 ;
刘铮 ;
冯志涛 ;
王春雷 .
中国专利 :CN107479103B ,2017-12-15
[6]
辐射检查系统 [P]. 
陈志强 ;
刘磊 ;
孙尚民 ;
宗春光 ;
胡煜 ;
马媛 ;
季峥 .
中国专利 :CN114764069B ,2024-10-11
[7]
辐射检查系统 [P]. 
陈志强 ;
李元景 ;
张丽 ;
宗春光 ;
刘必成 ;
党永乐 ;
王伟珍 .
中国专利 :CN119575495A ,2025-03-07
[8]
辐射检查系统 [P]. 
曹艳锋 .
中国专利 :CN215116840U ,2021-12-10
[9]
辐射检查系统 [P]. 
李荐民 ;
张丽 ;
李元景 ;
陈志强 ;
孙尚民 ;
王云峰 ;
李巨轩 ;
许艳伟 ;
喻卫丰 ;
马媛 ;
胡煜 ;
宗春光 .
中国专利 :CN209542863U ,2019-10-25
[10]
辐射检查系统 [P]. 
刘磊 ;
季峥 ;
迟豪杰 ;
刘必成 ;
宗春光 .
中国专利 :CN119575497A ,2025-03-07