辐射检查系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411975584.4
申请日
2024-12-30
公开(公告)号
CN119575497A
公开(公告)日
2025-03-07
发明(设计)人
刘磊 季峥 迟豪杰 刘必成 宗春光
申请人
同方威视技术股份有限公司 同方威视科技(北京)有限公司
申请人地址
100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
IPC主分类号
G01V5/22
IPC分类号
G01N23/203 G01N23/20008 G01N23/04
代理机构
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人
马艳苗
法律状态
实质审查的生效
国省代码
河北省 衡水市
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共 50 条
[1]
辐射检查系统 [P]. 
季峥 ;
刘磊 ;
迟豪杰 ;
刘必成 ;
宗春光 .
中国专利 :CN119575496A ,2025-03-07
[2]
辐射检查系统 [P]. 
闫雄 ;
王少锋 ;
刘铮 ;
冯志涛 ;
王春雷 .
中国专利 :CN107479103B ,2017-12-15
[3]
辐射检查系统 [P]. 
陈志强 ;
李元景 ;
张丽 ;
宗春光 ;
刘必成 ;
党永乐 ;
王伟珍 .
中国专利 :CN119575495A ,2025-03-07
[4]
辐射检查系统 [P]. 
李元景 ;
宗春光 ;
刘必成 ;
马媛 ;
迟豪杰 ;
刘磊 ;
喻卫丰 ;
季峥 .
中国专利 :CN117784265A ,2024-03-29
[5]
辐射检查系统和辐射检查方法 [P]. 
芮晓亮 ;
王永明 ;
许艳伟 .
中国专利 :CN114764074A ,2022-07-19
[6]
辐射检查系统和辐射检查方法 [P]. 
李荐民 ;
张丽 ;
李元景 ;
陈志强 ;
孙尚民 ;
王云峰 ;
李巨轩 ;
许艳伟 ;
喻卫丰 ;
马媛 ;
胡煜 ;
宗春光 .
中国专利 :CN109407163A ,2019-03-01
[7]
辐射检查系统和辐射检查方法 [P]. 
李荐民 ;
张丽 ;
李元景 ;
陈志强 ;
孙尚民 ;
王云峰 ;
李巨轩 ;
许艳伟 ;
喻卫丰 ;
马媛 ;
胡煜 ;
宗春光 .
中国专利 :CN109407163B ,2024-05-31
[8]
辐射检查系统 [P]. 
于昊 ;
王伟珍 ;
李营 ;
马媛 ;
宋全伟 ;
史俊平 ;
李荐民 ;
李玉兰 ;
陈志强 ;
李元景 ;
张丽 .
中国专利 :CN108614302A ,2018-10-02
[9]
辐射检查系统 [P]. 
李元景 ;
宗春光 ;
刘必成 ;
刘磊 ;
迟豪杰 ;
喻卫丰 ;
史俊平 ;
谭惠文 .
中国专利 :CN117783165A ,2024-03-29
[10]
辐射检查系统 [P]. 
陈志强 ;
刘磊 ;
孙尚民 ;
宗春光 ;
胡煜 ;
马媛 ;
季峥 .
中国专利 :CN114764069B ,2024-10-11