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辐射检查系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201920013312.4
申请日
:
2019-01-04
公开(公告)号
:
CN209542863U
公开(公告)日
:
2019-10-25
发明(设计)人
:
李荐民
张丽
李元景
陈志强
孙尚民
王云峰
李巨轩
许艳伟
喻卫丰
马媛
胡煜
宗春光
申请人
:
申请人地址
:
100084 北京市海淀区清华园
IPC主分类号
:
G01V500
IPC分类号
:
代理机构
:
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038
代理人
:
艾春慧
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-10-25
授权
授权
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[1]
辐射检查系统和辐射检查方法
[P].
李荐民
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李荐民
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张丽
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张丽
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李元景
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李元景
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陈志强
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陈志强
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孙尚民
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孙尚民
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王云峰
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王云峰
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李巨轩
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李巨轩
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许艳伟
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许艳伟
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喻卫丰
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喻卫丰
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马媛
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马媛
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胡煜
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胡煜
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宗春光
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宗春光
.
中国专利
:CN109407163A
,2019-03-01
[2]
辐射检查系统和辐射检查方法
[P].
李荐民
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清华大学
清华大学
李荐民
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张丽
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张丽
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李元景
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李元景
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陈志强
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孙尚民
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孙尚民
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王云峰
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王云峰
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李巨轩
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清华大学
李巨轩
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许艳伟
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清华大学
许艳伟
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喻卫丰
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喻卫丰
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宗春光
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宗春光
.
中国专利
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,2024-05-31
[3]
辐射检查系统
[P].
陈志强
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
陈志强
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李元景
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李元景
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张丽
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党永乐
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党永乐
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王伟珍
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同方威视技术股份有限公司
同方威视技术股份有限公司
王伟珍
.
中国专利
:CN119575495A
,2025-03-07
[4]
辐射检查系统和辐射检查方法
[P].
芮晓亮
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芮晓亮
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王永明
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王永明
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许艳伟
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许艳伟
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:CN114764074A
,2022-07-19
[5]
辐射检查系统
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季峥
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宗春光
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:CN119575496A
,2025-03-07
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辐射检查系统
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李元景
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谭惠文
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,2024-03-29
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辐射检查系统
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闫雄
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闫雄
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王少锋
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冯志涛
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王春雷
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王春雷
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中国专利
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,2017-12-15
[8]
辐射检查系统
[P].
陈志强
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同方威视技术股份有限公司
陈志强
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同方威视技术股份有限公司
刘磊
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孙尚民
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马媛
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季峥
.
中国专利
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,2024-10-11
[9]
辐射检查系统
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曹艳锋
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曹艳锋
.
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,2021-12-10
[10]
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刘磊
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刘磊
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同方威视技术股份有限公司
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刘必成
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中国专利
:CN119575497A
,2025-03-07
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