一种多通道FA芯片自动耦合测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410897908.0

申请日：

2024-07-05

公开(公告)号：

CN118425746B

公开(公告)日：

2024-09-06

发明(设计)人：

梁景

申请人：

珠海市腾展科技有限公司

申请人地址：

519000 广东省珠海市香洲区福田路18号1栋1层103-100室（集中办公区）

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

广东富状元知识产权代理有限公司 44928

代理人：

邓大文

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-20	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240705
2024-09-06	授权	授权
2024-08-02	公开	公开

共 50 条

[1]

一种多通道FA芯片自动耦合测试设备 [P].

梁景 .

中国专利 :CN118425746A ,2024-08-02

[2]

一种多通道芯片测试设备 [P].

王焰华 .

中国专利 :CN215180662U ,2021-12-14

[3]

一种多通道芯片性能测试设备 [P].

颜建雄 .

中国专利 :CN213933955U ,2021-08-10

[4]

一种光芯片自动耦合测试设备 [P].

龚渤 ;

李鑫 ;

任涛 ;

张亮 ;

魏雍 .

中国专利 :CN216848044U ,2022-06-28

[5]

一种多通道搬运测试设备 [P].

陈良辉 ;

杨震 ;

陈豫川 ;

聂龙如 ;

陈月座 .

中国专利 :CN222203978U ,2024-12-20

[6]

一种多通道电源测试设备 [P].

肖育松 ;

李远水 ;

董兰英 .

中国专利 :CN216485435U ,2022-05-10

[7]

一种多通道电源测试设备 [P].

许国锋 .

中国专利 :CN216622482U ,2022-05-27

[8]

硅光芯片自动耦合测试设备及方法 [P].

段吉安 ;

彭晋文 ;

徐聪 ;

唐佳 ;

卢胜强 ;

周海波 ;

郑煜 ;

罗志 ;

刘蕾 .

中国专利 :CN113702004A ,2021-11-26

[9]

一种芯片测试设备 [P].

王树锋 ;

梁晖 ;

陈小兵 .

中国专利 :CN119916180A ,2025-05-02

[10]

一种芯片测试设备 [P].

张学伟 .

中国专利 :CN218350320U ,2023-01-20

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