硅光芯片自动耦合测试设备及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111006781.1

申请日：

2021-08-30

公开(公告)号：

CN113702004A

公开(公告)日：

2021-11-26

发明(设计)人：

段吉安彭晋文徐聪唐佳卢胜强周海波郑煜罗志刘蕾

申请人：

申请人地址：

410000 湖南省长沙市岳麓区麓山南路932号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

G01M1100 G01B1102 G01B1100 G01B1126

代理机构：

长沙轩荣专利代理有限公司 43235

代理人：

丛诗洋

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20210830
2021-11-26	公开	公开

共 50 条

[1]

硅光芯片的测试方法及设备 [P].

蔡艳 ;

汪巍 ;

涂芝娟 ;

曾友宏 ;

余明斌 .

中国专利 :CN112098768B ,2020-12-18

[2]

一种光芯片自动耦合测试设备 [P].

龚渤 ;

李鑫 ;

任涛 ;

张亮 ;

魏雍 .

中国专利 :CN216848044U ,2022-06-28

[3]

硅光芯片耦合测试装置以及测试方法 [P].

刘界辉 ;

肖宇 ;

张鹏飞 ;

苏星宇 .

中国专利 :CN118424655A ,2024-08-02

[4]

一种光芯片自动耦合测试系统及方法 [P].

柯滔 ;

谭书伟 ;

胡毅 .

中国专利 :CN107677454B ,2018-02-09

[5]

一种硅光芯片光耦合测试实现方法及装置、存储介质 [P].

李亮 ;

徐耀鸿 .

中国专利 :CN119880370A ,2025-04-25

[6]

一种硅光芯片光耦合测试实现方法及装置、存储介质 [P].

李亮 ;

徐耀鸿 .

中国专利 :CN119880370B ,2025-07-25

[7]

基于设计版图对硅光芯片进行光耦合测试的方法及系统 [P].

黄发军 ;

赵恒 ;

金里 .

中国专利 :CN110187454B ,2019-08-30

[8]

一种硅光芯片快速光耦合测试实现方法及系统、存储介质 [P].

李亮 ;

徐耀鸿 .

中国专利 :CN120594036A ,2025-09-05

[9]

光耦合组件、硅光芯片及光模块 [P].

李淼峰 ;

梁迪 ;

谢崇进 .

中国专利 :CN217034333U ,2022-07-22

[10]

一种硅光芯片及光引擎、耦合方法 [P].

方文银 ;

严雄武 ;

彭开盛 .

中国专利 :CN120405847B ,2025-08-29

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