一种光芯片自动耦合测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710909540.5

申请日：

2017-09-29

公开(公告)号：

CN107677454B

公开(公告)日：

2018-02-09

发明(设计)人：

柯滔谭书伟胡毅

申请人：

申请人地址：

430205 湖北省武汉市江夏区藏龙岛开发区潭湖路1号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340

代理人：

刘黎明

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-11-05	授权	授权
2018-03-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20170929
2018-02-09	公开	公开

共 50 条

[1]

硅光芯片自动耦合测试设备及方法 [P].

段吉安 ;

彭晋文 ;

徐聪 ;

唐佳 ;

卢胜强 ;

周海波 ;

郑煜 ;

罗志 ;

刘蕾 .

中国专利 :CN113702004A ,2021-11-26

[2]

一种光芯片自动耦合测试设备 [P].

龚渤 ;

李鑫 ;

任涛 ;

张亮 ;

魏雍 .

中国专利 :CN216848044U ,2022-06-28

[3]

芯片互连测试方法、芯片测试系统及自动化测试设备 [P].

许团辉 ;

朴英珲 ;

崔昌明 .

中国专利 :CN118314944A ,2024-07-09

[4]

一种光芯片的测试结构、测试方法及测试系统 [P].

程唐盛 ;

彭银和 ;

江明旸 ;

沈宣江 .

中国专利 :CN118671566B ,2024-12-10

[5]

一种光芯片的测试结构、测试方法及测试系统 [P].

程唐盛 ;

彭银和 ;

江明旸 ;

沈宣江 .

中国专利 :CN118671566A ,2024-09-20

[6]

光芯片自动耦合封测方法及系统 [P].

陈思乡 ;

鲁思成 ;

郜定山 ;

时文华 .

中国专利 :CN120122291A ,2025-06-10

[7]

一种光模块测试系统及测试方法 [P].

揭德锋 ;

吴志远 ;

谢虎 ;

李琳 ;

乐静 .

中国专利 :CN118784068A ,2024-10-15

[8]

一种光芯片测试系统 [P].

江明旸 ;

彭银和 ;

徐泉军 ;

沈宣江 ;

程唐盛 .

中国专利 :CN121114506A ,2025-12-12

[9]

一种光芯片的晶圆测试系统及测试方法 [P].

张米乐 ;

邢宇飞 ;

崔海林 .

中国专利 :CN117470498A ,2024-01-30

[10]

一种硅光芯片快速光耦合测试实现方法及系统、存储介质 [P].

李亮 ;

徐耀鸿 .

中国专利 :CN120594036A ,2025-09-05

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