硅光芯片的测试方法及设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910461940.3

申请日：

2019-05-30

公开(公告)号：

CN112098768B

公开(公告)日：

2020-12-18

发明(设计)人：

蔡艳汪巍涂芝娟曾友宏余明斌

申请人：

申请人地址：

201800 上海市嘉定区城北路235号1号楼

IPC主分类号：

G01R3101

IPC分类号：

G01M1102 G01R104

代理机构：

上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294

代理人：

孙佳胤

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-29	授权	授权
2020-12-18	公开	公开
2021-01-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/01 申请日:20190530

共 50 条

[1]

硅光芯片自动耦合测试设备及方法 [P].

段吉安 ;

彭晋文 ;

徐聪 ;

唐佳 ;

卢胜强 ;

周海波 ;

郑煜 ;

罗志 ;

刘蕾 .

中国专利 :CN113702004A ,2021-11-26

[2]

硅光芯片的制备方法及硅光芯片 [P].

徐莉 ;

储蔚 ;

洪秉宙 ;

赵欣然 .

中国专利 :CN121209132A ,2025-12-26

[3]

硅光芯片封装结构的热阻测试方法、装置及设备 [P].

刘敬伟 ;

蔡丰任 ;

李春龙 .

中国专利 :CN119471310A ,2025-02-18

[4]

硅光芯片测试装置及其测试方法 [P].

罗超 ;

徐凯 ;

陈庆东 .

中国专利 :CN117191358B ,2024-02-13

[5]

芯片测试设备及芯片测试设备的控制方法 [P].

黄梓泓 ;

黄梓楠 ;

梁华清 .

中国专利 :CN118210664A ,2024-06-18

[6]

芯片测试设备及芯片测试设备的控制方法 [P].

黄梓泓 ;

黄梓楠 ;

梁华清 .

中国专利 :CN118210664B ,2024-08-23

[7]

芯片测试设备及芯片测试设备的控制方法 [P].

梁明哲 .

中国专利 :CN115166490B ,2025-08-19

[8]

硅光器件布局方法、装置及硅光芯片 [P].

李瑜 ;

于济瑶 ;

曹国威 .

中国专利 :CN114781315A ,2022-07-22

[9]

芯片测试设备及芯片测试方法 [P].

潘月胜 ;

王梓 ;

霍亮 .

中国专利 :CN117554778A ,2024-02-13

[10]

芯片测试方法及芯片测试设备 [P].

原东明 ;

李亮 ;

申华新 .

中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23

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