芯片测试设备及芯片测试设备的控制方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410623374.2

申请日：

2024-05-20

公开(公告)号：

CN118210664B

公开(公告)日：

2024-08-23

发明(设计)人：

黄梓泓黄梓楠梁华清

申请人：

深圳市联润丰电子科技有限公司

申请人地址：

518110 广东省深圳市龙华区大浪街道水围社区华霆路317号A栋201（一照多址企业）

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G01R31/28 G06F11/26

代理机构：

深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525

代理人：

覃业军

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-18	公开	公开
2024-08-23	授权	授权
2024-07-05	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20240520

共 50 条

[1]

芯片测试设备及芯片测试设备的控制方法 [P].

黄梓泓 ;

黄梓楠 ;

梁华清 .

中国专利 :CN118210664A ,2024-06-18

[2]

芯片测试设备及芯片测试设备的控制方法 [P].

梁明哲 .

中国专利 :CN115166490B ,2025-08-19

[3]

芯片测试设备及芯片测试方法 [P].

潘月胜 ;

王梓 ;

霍亮 .

中国专利 :CN117554778A ,2024-02-13

[4]

芯片测试方法及芯片测试设备 [P].

原东明 ;

李亮 ;

申华新 .

中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23

[5]

芯片测试设备及方法 [P].

欧永明 ;

林寅 .

中国专利 :CN120652253A ,2025-09-16

[6]

芯片测试方法、芯片测试设备以及芯片 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN110967614B ,2020-04-07

[7]

测试设备的控制方法及芯片测试系统 [P].

于洋 ;

邓成龙 ;

王德伟 ;

李金胚 ;

孙传凤 .

中国专利 :CN119375682B ,2025-07-15

[8]

测试设备的控制方法及芯片测试系统 [P].

于洋 ;

邓成龙 ;

王德伟 ;

李金胚 ;

孙传凤 .

中国专利 :CN119375682A ,2025-01-28

[9]

芯片测试排线及芯片测试设备 [P].

赵海洋 ;

刘乐 ;

刘伟 ;

王健 ;

孔晓琳 ;

张家华 ;

李安平 .

中国专利 :CN216870739U ,2022-07-01

[10]

芯片测试电路、芯片及测试设备 [P].

严波 ;

罗浚洲 ;

王悦 .

中国专利 :CN115267498B ,2025-07-01

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