测试设备的控制方法及芯片测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411921047.1

申请日：

2024-12-25

公开(公告)号：

CN119375682B

公开(公告)日：

2025-07-15

发明(设计)人：

于洋邓成龙王德伟李金胚孙传凤

申请人：

杭州长川科技股份有限公司

申请人地址：

310051 浙江省杭州市滨江区聚才路410号

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250

代理人：

唐诗卉

法律状态：

授权

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-15	授权	授权
2025-02-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20241225
2025-01-28	公开	公开

共 50 条

[1]

测试设备的控制方法及芯片测试系统 [P].

于洋 ;

邓成龙 ;

王德伟 ;

李金胚 ;

孙传凤 .

中国专利 :CN119375682A ,2025-01-28

[2]

芯片测试控制方法、芯片测试系统和设备 [P].

吴承泽 ;

李钦源 ;

张亚鑫 ;

杨文军 .

中国专利 :CN119335358A ,2025-01-21

[3]

芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法 [P].

田健飞 ;

王远 ;

唐平 .

中国专利 :CN114518524A ,2022-05-20

[4]

芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法 [P].

田健飞 ;

王远 ;

唐平 .

中国专利 :CN114518524B ,2025-07-08

[5]

NVM芯片测试系统及测试方法 [P].

陈凯华 ;

谢晋春 ;

陈婷 ;

桑浚之 ;

辛吉升 .

中国专利 :CN101202117A ,2008-06-18

[6]

芯片测试方法、芯片测试系统和测试设备 [P].

刘伟 ;

朱仁艳 ;

黄金煌 .

中国专利 :CN119805164A ,2025-04-11

[7]

芯片测试系统、芯片测试方法及设备 [P].

姜虎明 ;

吴泽民 .

中国专利 :CN119299656A ,2025-01-10

[8]

芯片测试系统、芯片测试方法及设备 [P].

姜虎明 ;

吴泽民 .

中国专利 :CN119342202A ,2025-01-21

[9]

芯片测试系统及测试方法 [P].

周彦杰 ;

陈光胜 .

中国专利 :CN106556793A ,2017-04-05

[10]

芯片互连测试方法、芯片测试系统及自动化测试设备 [P].

许团辉 ;

朴英珲 ;

崔昌明 .

中国专利 :CN118314944A ,2024-07-09

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