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一种存储芯片的测试系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202323606257.5
申请日：
2023-12-27
公开(公告)号：
CN221427378U
公开(公告)日：
2024-07-26
发明(设计)人：
谢杰志
申请人：
成都芯金邦科技有限公司
申请人地址：
611700 四川省成都市高新区安泰七路66号3栋1层1号
IPC主分类号：
G11C29/56
IPC分类号：
代理机构：
成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214
代理人：
周浩杰
法律状态：
专利权质押登记、变更及注销
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-03-07 | 专利权质押登记、变更及注销 | 专利权质押登记IPC(主分类):G11C 29/56登记号:Y2025980004820登记日:20250218出质人:成都芯金邦科技有限公司质权人:兴业银行股份有限公司成都分行实用新型名称:一种存储芯片的测试系统申请日:20231227授权公告日:20240726 |
| 2024-07-26 | 授权 | 授权 |