芯片测试夹具、芯片测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322443296.1

申请日：

2023-09-08

公开(公告)号：

CN221612893U

公开(公告)日：

2024-08-27

发明(设计)人：

刘爱淼邓明杨

申请人：

宁德时代新能源科技股份有限公司

申请人地址：

352100 福建省宁德市蕉城区漳湾镇新港路2号

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

贾问

法律状态：

授权

国省代码：

福建省宁德市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-27	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试夹具及芯片测试系统 [P].

高琳 ;

王永康 ;

丁庆 .

中国专利 :CN205861729U ,2017-01-04

[2]

芯片测试夹具及芯片测试系统 [P].

高琳 ;

王永康 ;

丁庆 .

中国专利 :CN106093483A ,2016-11-09

[3]

芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117517732A ,2024-02-06

[4]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

谢媛媛 ;

张智 ;

沈忠丽 .

中国专利 :CN120559431A ,2025-08-29

[5]

芯片测试基板和芯片测试系统 [P].

张明云 .

中国专利 :CN113671351A ,2021-11-19

[6]

芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

中国专利 :CN112309487A ,2021-02-02

[7]

芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

美国专利 :CN112309487B ,2024-04-12

[8]

芯片测试系统 [P].

吴志军 ;

杨泽坤 ;

楚志华 ;

李安平 ;

李晓白 .

中国专利 :CN223471113U ,2025-10-24

[9]

芯片测试系统 [P].

朱魏 ;

龙华 .

中国专利 :CN216351058U ,2022-04-19

[10]

芯片旋转测试夹具、芯片测试装置及芯片测试机 [P].

沈炳元 ;

林咏华 .

中国专利 :CN120233127A ,2025-07-01

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