模糊测试方法、装置、设备及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410449574.0

申请日：

2024-04-15

公开(公告)号：

CN118332560A

公开(公告)日：

2024-07-12

发明(设计)人：

孙利民张洋吕世超李志司帅宗陈新

申请人：

中国科学院信息工程研究所

申请人地址：

100085 北京市海淀区树村路19号

IPC主分类号：

G06F21/57

IPC分类号：

G06F18/241 G06F16/9035 G06F11/36

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

苗青盛

法律状态：

公开

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-12	公开	公开
2024-07-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 21/57申请日:20240415

共 50 条

[1]

模糊测试系统、模糊测试方法、电子设备及存储介质 [P].

李胤颉 .

中国专利 :CN118227451A ,2024-06-21

[2]

模糊测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

马东辉 ;

王小东 .

中国专利 :CN111917692A ,2020-11-10

[3]

模糊测试方法、装置、电子设备和可读存储介质 [P].

刘畅 .

中国专利 :CN117828609A ,2024-04-05

[4]

软件模糊测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

张超 ;

王准 .

中国专利 :CN116108449B ,2024-02-23

[5]

程序模糊测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

张超 ;

秦世松 ;

赵博栋 .

中国专利 :CN115357513A ,2022-11-18

[6]

黑盒模糊测试方法、设备及计算机可读存储介质 [P].

房思勤 ;

张金鑫 ;

赵英俊 ;

夏云浩 ;

赵尹源 .

中国专利 :CN118733425A ,2024-10-01

[7]

模糊测试方法、装置、设备和存储介质 [P].

刘炜 .

中国专利 :CN117407877A ,2024-01-16

[8]

模糊测试方法、装置、设备以及存储介质 [P].

于乐 ;

张峰 ;

朱时源 ;

马禹昇 ;

王晓辉 ;

李姣姣 ;

程晋雪 ;

智绪龙 .

中国专利 :CN118013527A ,2024-05-10

[9]

模糊测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

梁一 .

中国专利 :CN115134278A ,2022-09-30

[10]

模糊测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

梁一 .

中国专利 :CN115134278B ,2024-06-28

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