模糊测试方法、装置、设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202310704597.7

申请日：

2023-06-14

公开(公告)号：

CN117407877A

公开(公告)日：

2024-01-16

发明(设计)人：

刘炜

申请人：

深圳TCL新技术有限公司

申请人地址：

518052 广东省深圳市南山区西丽街道中山园路1001号国际E城D4栋9楼

IPC主分类号：

G06F21/57

IPC分类号：

代理机构：

深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570

代理人：

张贤慧

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-02	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 21/57申请日:20230614
2024-01-16	公开	公开

共 50 条

[1]

模糊测试方法、存储介质和电子装置 [P].

张金鑫 ;

仝琦源 ;

赵英俊 .

中国专利 :CN117648262A ,2024-03-05

[2]

模糊测试方法、存储介质和电子装置 [P].

张金鑫 ;

仝琦源 ;

赵英俊 .

中国专利 :CN117648262B ,2024-06-07

[3]

模糊测试方法、装置、设备以及存储介质 [P].

于乐 ;

张峰 ;

朱时源 ;

马禹昇 ;

王晓辉 ;

李姣姣 ;

程晋雪 ;

智绪龙 .

中国专利 :CN118013527A ,2024-05-10

[4]

模糊测试方法、装置、电子设备和可读存储介质 [P].

刘畅 .

中国专利 :CN117828609A ,2024-04-05

[5]

模糊测试方法和装置、电子设备及存储介质 [P].

黄亮 .

中国专利 :CN117707974A ,2024-03-15

[6]

软件模糊测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

张超 ;

王准 .

中国专利 :CN116108449B ,2024-02-23

[7]

程序模糊测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

张超 ;

秦世松 ;

赵博栋 .

中国专利 :CN115357513A ,2022-11-18

[8]

模糊测试方法、装置、设备及可读存储介质 [P].

孙利民 ;

张洋 ;

吕世超 ;

李志 ;

司帅宗 ;

陈新 .

中国专利 :CN118332560A ,2024-07-12

[9]

模糊测试的种子处理、模糊测试方法、系统和存储介质 [P].

鲁辉 ;

张鑫国 ;

田志宏 ;

殷丽华 ;

孙彦斌 ;

苏申 ;

杨佳庚 .

中国专利 :CN111881039A ,2020-11-03

[10]

模糊测试系统、模糊测试方法、电子设备及存储介质 [P].

李胤颉 .

中国专利 :CN118227451A ,2024-06-21

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