模糊测试方法、存储介质和电子装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410117981.1

申请日：

2024-01-29

公开(公告)号：

CN117648262B

公开(公告)日：

2024-06-07

发明(设计)人：

张金鑫仝琦源赵英俊

申请人：

中兴通讯股份有限公司

申请人地址：

518057 广东省深圳市南山区科技南路55号

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

刘旺贵

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

山东省青岛市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-22	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20240129
2024-06-07	授权	授权
2024-03-05	公开	公开

共 50 条

[1]

模糊测试方法、存储介质和电子装置 [P].

张金鑫 ;

仝琦源 ;

赵英俊 .

中国专利 :CN117648262A ,2024-03-05

[2]

模糊测试方法、装置、设备和存储介质 [P].

刘炜 .

中国专利 :CN117407877A ,2024-01-16

[3]

模糊测试方法、装置、电子设备和可读存储介质 [P].

刘畅 .

中国专利 :CN117828609A ,2024-04-05

[4]

模糊测试方法和装置、电子设备及存储介质 [P].

黄亮 .

中国专利 :CN117707974A ,2024-03-15

[5]

模糊测试系统、模糊测试方法、电子设备及存储介质 [P].

李胤颉 .

中国专利 :CN118227451A ,2024-06-21

[6]

软件模糊测试方法和装置、电子设备及存储介质 [P].

张超 ;

赵博栋 .

中国专利 :CN114328173B ,2022-04-12

[7]

模糊测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

梁一 .

中国专利 :CN115134278A ,2022-09-30

[8]

模糊测试的种子处理、模糊测试方法、系统和存储介质 [P].

鲁辉 ;

张鑫国 ;

田志宏 ;

殷丽华 ;

孙彦斌 ;

苏申 ;

杨佳庚 .

中国专利 :CN111881039A ,2020-11-03

[9]

模糊测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

梁一 .

中国专利 :CN115134278B ,2024-06-28

[10]

模糊测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李文杰 .

中国专利 :CN111124926B ,2020-05-08

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