模糊测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911359307.X

申请日：

2019-12-25

公开(公告)号：

CN111124926B

公开(公告)日：

2020-05-08

发明(设计)人：

李文杰

申请人：

申请人地址：

310000 浙江省杭州市西湖区西溪路556号8层B段801-11

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京风雅颂专利代理有限公司 11403

代理人：

郭曼

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-08	公开	公开
2020-06-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20191225
2022-09-16	授权	授权

共 50 条

[1]

模糊测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

梁一 .

中国专利 :CN115134278A ,2022-09-30

[2]

模糊测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

梁一 .

中国专利 :CN115134278B ,2024-06-28

[3]

模糊测试系统、模糊测试方法、电子设备及存储介质 [P].

李胤颉 .

中国专利 :CN118227451A ,2024-06-21

[4]

模糊测试方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

张金鑫 ;

刘谈 ;

刘晖 ;

赵英俊 ;

夏云浩 .

中国专利 :CN117435506A ,2024-01-23

[5]

模糊测试方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

张金鑫 ;

刘谈 ;

刘晖 ;

赵英俊 ;

夏云浩 .

中国专利 :CN117435506B ,2024-04-16

[6]

模糊测试方法和装置、电子设备及存储介质 [P].

黄亮 .

中国专利 :CN117707974A ,2024-03-15

[7]

模糊测试的方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘诗源 ;

马逸行 ;

王满力 .

中国专利 :CN118353816A ,2024-07-16

[8]

模糊测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

胡进 ;

刘明 .

中国专利 :CN117950979A ,2024-04-30

[9]

PLC协议模糊测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

王文海 ;

武岳 ;

张旭鸿 ;

张奕楠 ;

侯黎阳 ;

谢辰承 .

中国专利 :CN114063606B ,2022-02-18

[10]

软件模糊测试方法和装置、电子设备及存储介质 [P].

张超 ;

赵博栋 .

中国专利 :CN114328173B ,2022-04-12

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