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软件模糊测试方法和装置、电子设备及存储介质

被引：0
申请号：
CN202111257121.0
申请日：
2021-10-27
公开(公告)号：
CN114328173B
公开(公告)日：
2022-04-12
发明(设计)人：
张超 赵博栋
申请人：
申请人地址：
100084 北京市海淀区双清路30号清华大学
IPC主分类号：
G06F1136
IPC分类号：
代理机构：
北京路浩知识产权代理有限公司 11002
代理人：
蒋娟
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-04-29 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20211027
2022-08-05 授权 授权
2022-04-12 公开 公开
共 50 条
[1]
模糊测试方法和装置、电子设备及存储介质 [P]. 
黄亮 .
中国专利 :CN117707974A ,2024-03-15
[2]
模糊测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
梁一 .
中国专利 :CN115134278A ,2022-09-30
[3]
模糊测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
梁一 .
中国专利 :CN115134278B ,2024-06-28
[4]
模糊测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李文杰 .
中国专利 :CN111124926B ,2020-05-08
[5]
模糊测试系统、模糊测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
李胤颉 .
中国专利 :CN118227451A ,2024-06-21
[6]
模糊测试方法、装置、电子设备和可读存储介质 [P]. 
刘畅 .
中国专利 :CN117828609A ,2024-04-05
[7]
模糊测试的方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘诗源 ;
马逸行 ;
王满力 .
中国专利 :CN118353816A ,2024-07-16
[8]
软件测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
孙明刚 ;
刘涛 ;
田镇国 ;
李琦 .
中国专利 :CN120316017A ,2025-07-15
[9]
软件测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
孙明刚 ;
刘涛 ;
田镇国 ;
李琦 .
中国专利 :CN120316017B ,2025-08-08
[10]
软件测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
甘振文 .
中国专利 :CN113722229A ,2021-11-30
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