软件测试方法及装置、电子设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510796661.8

申请日：

2025-06-13

公开(公告)号：

CN120316017A

公开(公告)日：

2025-07-15

发明(设计)人：

孙明刚刘涛田镇国李琦

申请人：

苏州元脑智能科技有限公司

申请人地址：

215103 江苏省苏州市吴中经济开发区综保区经一路1号8幢

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

G06F18/213 G06F18/22

代理机构：

北京法胜知识产权代理有限公司 11922

代理人：

徐博

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-08	授权	授权
2025-08-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20250613
2025-07-15	公开	公开

共 50 条

[1]

软件测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

孙明刚 ;

刘涛 ;

田镇国 ;

李琦 .

中国专利 :CN120316017B ,2025-08-08

[2]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙文东 .

中国专利 :CN115640203A ,2023-01-24

[3]

软件测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

苏雅如 ;

王斯杰 ;

何燕飞 ;

林顺 .

中国专利 :CN113656286A ,2021-11-16

[4]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈燕 ;

周磊 ;

刘耀文 ;

张澳 .

中国专利 :CN120276969A ,2025-07-08

[5]

软件测试方法及装置、存储介质及电子设备 [P].

姚璇 .

中国专利 :CN113836022A ,2021-12-24

[6]

软件质量测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄佳鑫 ;

张赛男 .

中国专利 :CN114490349A ,2022-05-13

[7]

软件接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王涛 .

中国专利 :CN112506779A ,2021-03-16

[8]

软件测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

白凯敏 ;

宛明晔 ;

刘淼 ;

尚朝军 .

中国专利 :CN117435464A ,2024-01-23

[9]

软件测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

甘振文 .

中国专利 :CN113722229A ,2021-11-30

[10]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨晓建 .

中国专利 :CN115599674A ,2023-01-13

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