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软件测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410009798.X
申请日：
2024-01-02
公开(公告)号：
CN120276969A
公开(公告)日：
2025-07-08
发明(设计)人：
陈燕 周磊 刘耀文 张澳
申请人：
太保科技有限公司
申请人地址：
200010 上海市黄浦区中山南路1号11层(名义楼层)11V6室
IPC主分类号：
G06F11/3668
IPC分类号：
代理机构：
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人：
骆希聪
法律状态：
公开
国省代码：
上海市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-07-08 公开 公开
共 50 条
[1]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
孙文东 .
中国专利 :CN115640203A ,2023-01-24
[2]
软件测试方法及装置、存储介质及电子设备 [P]. 
姚璇 .
中国专利 :CN113836022A ,2021-12-24
[3]
软件测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
孙明刚 ;
刘涛 ;
田镇国 ;
李琦 .
中国专利 :CN120316017A ,2025-07-15
[4]
软件测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
苏雅如 ;
王斯杰 ;
何燕飞 ;
林顺 .
中国专利 :CN113656286A ,2021-11-16
[5]
软件测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
孙明刚 ;
刘涛 ;
田镇国 ;
李琦 .
中国专利 :CN120316017B ,2025-08-08
[6]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
杨晓建 .
中国专利 :CN115599674A ,2023-01-13
[7]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈松林 .
中国专利 :CN115543837B ,2025-08-01
[8]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈松林 .
中国专利 :CN115543837A ,2022-12-30
[9]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李柏桥 .
中国专利 :CN119473837A ,2025-02-18
[10]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
林青青 ;
郑培龙 ;
郑才目 ;
张翠霞 .
中国专利 :CN117493208A ,2024-02-02
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