软件测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202211305911.6

申请日：

2022-10-24

公开(公告)号：

CN115543837A

公开(公告)日：

2022-12-30

发明(设计)人：

陈松林

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市罗湖区深南东路5047号

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

G06Q4004

代理机构：

深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570

代理人：

郑明耀

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20221024
2022-12-30	公开	公开

共 50 条

[1]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈松林 .

中国专利 :CN115543837B ,2025-08-01

[2]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨晓建 .

中国专利 :CN115599674A ,2023-01-13

[3]

软件测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

戴婉君 ;

方晓霖 .

中国专利 :CN113326186A ,2021-08-31

[4]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘新磊 .

中国专利 :CN110134593A ,2019-08-16

[5]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李柏桥 .

中国专利 :CN119473837A ,2025-02-18

[6]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

林青青 ;

郑培龙 ;

郑才目 ;

张翠霞 .

中国专利 :CN117493208A ,2024-02-02

[7]

软件测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

严东荣 .

中国专利 :CN117573544A ,2024-02-20

[8]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李懿 ;

韦晨曦 ;

李斌 ;

江旻 .

中国专利 :CN114090447A ,2022-02-25

[9]

软件测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

祁伊祯 .

中国专利 :CN118467382A ,2024-08-09

[10]

软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

吴圣辉 ;

孙若曦 .

中国专利 :CN119149435A ,2024-12-17

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